咨询热线: 400-635-0567
纯度检测:通过气相色谱等方法测定正硅酸乙酯中的纯度。
杂质含量分析:评估正硅酸乙酯中的有机和无机杂质含量。
二氧化硅含量测定:正硅酸乙酯完全水解后产生的氧化硅粉的测定,这通常用于荧光粉的制造。
物理性质测试:包括熔点、沸点、密度、折射率等物理参数的测定。
化学性质测试:评估正硅酸乙酯的化学稳定性和反应性。
水分含量测定:正硅酸乙酯中水分含量的测定,对产品质量有重要影响。
pH值测试:评估正硅酸乙酯水溶液的酸碱度。
热稳定性测试:评估正硅酸乙酯在不同温度下的稳定性。
重金属含量测试:测定正硅酸乙酯中的重金属含量,如铅、镉、汞等。
蒸发残渣测试:在特定条件下加热蒸发后残留物的测定。
紫外-可见吸收光谱分析:评估正硅酸乙酯的光吸收特性。
核磁共振波谱分析:用于正硅酸乙酯的分子结构分析。
红外光谱分析:用于正硅酸乙酯的化学键和分子结构分析。
气相色谱检测:利用正硅酸乙酯中杂质组分的沸点、分子量、极性的不同,通过气相色谱分离得到分离信号,然后通过检测器电离形成离子信号,再经放大转换后显示在谱图上。被测组分的含量与其出峰的峰面积成正比,通过面积归一法处理色谱图,得到各组分含量。
元素分析:通过特定的化学方法测定正硅酸乙酯中硅(Si)、氧(O)等元素的含量。
红外光谱分析:利用红外光谱仪分析正硅酸乙酯的化学键和分子结构,通过特征吸收峰确定其化学组成。
核磁共振分析:使用核磁共振波谱分析正硅酸乙酯的分子结构和氢原子环境。
热重分析:通过测量样品在加热过程中的质量变化,分析其热稳定性和分解情况。
重量法:先用强酸处理正硅酸乙酯样品,再通过灰化生成二氧化硅(SiO2),然后测定SiO2的含量。
高纯酸处理:在分析电子级正硅酸乙酯中的痕量杂质时,先利用高纯氢氟酸(HF)处理样品,再加入适量的高纯硝酸进行恒温加热处理,以去除杂质并进行分析。
试验周期
检测周期一般为7-10个工作日,根据具体需求,可以提供加急服务。
HG/T 5461-2018 硅酸乙酯偶联剂
WJ/Z 6-2014 光学零件镀膜用硅酸乙酯典型工艺
ASTM D4752-2010 溶剂擦拭法测定硅酸乙酯(无机)富锌底漆的甲乙酮耐受性的标准实施规程
YY 0712-2009 牙科硅酸乙酯结合剂铸造包埋材料
ASTM D4752-2003 用溶剂擦试法测定硅酸乙酯(无机)富锌底漆耐甲乙酮的标准试验方法
HB 5345-1986 熔模铸造用硅酸乙酯
BS 5189-3-1975 牙科铸造包埋料.第3部分:硅酸乙酯粘结的牙科铸造包埋料
WJ 410-1965 光学零件镀膜用硅酸乙酯技术条件
WJ/Z 6-1965 光学零件镀膜用硅酸乙酯典型工艺
HGB 3459-1962 正硅酸乙酯
气相色谱仪: 利用气相色谱仪进行正硅酸乙酯的纯度检测,通过色谱柱分离样品中的不同组分,并通过检测器检测得到气相色谱图。
元素分析仪: 用于测定正硅酸乙酯中的SiO2含量和其他元素成分。
红外光谱仪: 通过红外光谱分析正硅酸乙酯的化学键和分子结构。
核磁共振波谱仪: 用于分析正硅酸乙酯的分子结构。
热重分析仪: 通过热重分析评估正硅酸乙酯的热稳定性。
电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS): 用于电子级正硅酸乙酯中痕量杂质的分析检测,具有检测极限低、快速准确的优点。
手持式泵吸型正硅酸乙酯TEOS气体检测仪: 用于检测环境中的正硅酸乙酯蒸气浓度。
便携式扩散型正硅酸乙酯TEOS气体检测仪: 用于便携式检测正硅酸乙酯气体泄漏。
固定式正硅酸乙酯TEOS气体检测仪: 用于现场车间、封闭作业场所等区域正硅酸乙酯气体泄漏的24小时连续在线检测报警。
硅酸根分析仪: 主要用于监测水中硅酸根含量,但在分析正硅酸乙酯时可能用于测定相关硅含量。
确定测试对象与安排:确认测试对象并进行初步检查,确定样品寄送或上门采样安排;
制定验证实验方案:与委托方确认与协商实验方案,验证实验方案的可行性和有效性;
签署委托书:签署委托书,明确测试详情,确定费用,并按约定支付;
进行实验测试:按实验方案进行试验测试,记录数据,并进行必要的控制和调整;
数据分析与报告:分析试验数据,并进行归纳,撰写并审核测试报告,出具符合要求的测试报告,并及时反馈测试结果给委托方。