中化所检测中心提供的可控硅过零检测的适用样品包括：普通可控硅、双向可控硅、逆导可控硅、门极关断可控硅、BTG可控硅、温控可控硅、光控可控硅、二极可控硅、三极可控硅、四极可控硅、导通可控硅等。

测试项目：

过零测试、电气性能测试。

DIN EN 60700-1-2016 压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验

IEC 60143-4-2010 电力系统用串联电容器.第4部分:可控硅控制的的串联电容器

JIS C4402-2010 浮充电用可控硅整流器

KS C IEC 60747-6-2-2006 半导体器件.分立器件

IEEE C 62.37-1996 可控硅二极管缓冲保护装置试验规范

IEC 60700-1 Edition 1.1-2003 高压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验

IEC 61954 Edition 1.1-2003 输电和配电用电力电子装置.静态变量补偿器用可控硅阀的试验

KS C IEC 60700-1-2002 高压直流(HVDC)传输用可控硅阀门.第1部分:电气试验

可控硅是交流电路中常用的一种功率元器件，可以用作可控整流、无触点开关或者是调压等功能。在交流电路中应用广泛。用于交流控制回路的固态继电器SSR的无触点开关基本都是用可控硅来实现的。

所谓过零检测就是指在交流回路中，当波形由正半周向负半周转换或者由负半周向正半周转换时，经过零位，系统要检测到这个零位。可控硅过零检测是指，系统检测到零位时，要让可控硅在零位或者零位附近时触点导通或者断开。

检测流程

1.在线或电话咨询，沟通测试项目;

2.寄送样品或上门取样，确认实验方案;

3.签署保密协议，支付测试费用;

4.整理实验数据，出具测试报告;

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可控硅过零检测其它介绍：

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