表面磁场测试

检测范围

永磁体、电磁铁、电机、变压器、扬声器、麦克风、磁传感器、霍尔元件、磁头、硬盘、磁带、磁卡、信用卡、身份证、水表、电表、燃气表、磁性分离器、磁选机、磁共振成像设备(MRI)、电子顺磁共振波谱仪(EPR)、超导磁体、核磁共振谱仪(NMR)、磁性材料、软磁材料、硬磁材料、稀土永磁材料、磁性流体、磁致伸缩材料、磁记录材料、微波铁氧体器件、磁性天线、磁屏蔽材料、电磁离合器、电磁制动器、电磁继电器等。

检测方法

高斯计法：使用高斯计(也称为特斯拉计)来测量表面磁场。将高斯计的探头放置在被测物体表面，直接读取磁场强度值。高斯计法操作简单、直观，可实时测量，但测量精度可能受探头尺寸和灵敏度的限制。

霍尔效应法：基于霍尔效应原理，当电流通过置于磁场中的导体或半导体时，在垂直于电流和磁场的方向上会产生霍尔电压，通过测量霍尔电压来计算磁场强度。该方法精度较高、响应速度快，可用于测量交直流磁场，但对测量环境要求较高，易受温度等因素影响。

磁通门法：利用高磁导率的磁性材料在交变磁场作用下的非线性特性来测量磁场。磁通门传感器对弱磁场有较高的灵敏度，可测量直流和低频交流磁场，常用于地球磁场测量和弱磁场检测，但结构相对复杂，体积较大。

核磁共振法：利用原子核在磁场中的共振现象来测量磁场。该方法测量精度极高，可作为磁场测量的标准方法，但设备昂贵、体积大，操作复杂，通常用于高精度科学研究和计量领域。

磁光效应法：基于磁光效应，如法拉第效应、克尔效应等，当光通过磁场中的介质或在磁性材料表面反射时，光的偏振态会发生变化，通过测量光偏振态的变化来间接测量磁场。磁光效应法可实现非接触式测量，对被测物体影响小，适用于高温、强辐射等特殊环境，但测量系统较为复杂，需要专业的光学设备。