检测服务
我们的服务
半导体分立器件检测,半导体分立器件测试
检测服务
中化所检测中心积累有多年检测技术经验，整合了大量的检测行业资源，可以为您提供分析、检测、测试等服务。由中化所提供的检测报告可以提高消费者对您产品的信赖。
中化所检测中心可以为客户提供以下相关检测服务：
检测产品范围：
大功率二极管、IGBT模块、大功率IGBT、大功率双极型晶体管、功率二极管、功率三极管、晶闸管、MOSFET、IGBT等半导体功率器件等
检测项目：
集电极-发射极漏电流
正向栅极漏电流
反向栅极漏电流
集电极-发射极击穿电压
栅极-发射极阈值电压
集电极-发射极饱和电压
通态电极电流
通态栅极电压
二极管正向导通压降
静态测试、动态测试、环境老化测试、热特性测试等
注意：因业务调整，暂不接受个人委托。
检测标准(部分)
GB/T 37312.1-2019 航空电子过程管理 航空航天、国防及其他高性能应用领域(ADHP)电子元器件 第1部分：高可靠集成电路与分立半导体器件通用要求
GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器
GB/T 249-2017 半导体分立器件型号命名方法
GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)
GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
GB/T 13150-2005 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范
GB/T 13151-2005 半导体器件 分立器件 第6部分;晶闸管 第三篇 电流大于100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范
GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分;光电子器件基本额定值和特性
服务信息
半导体分立器件是电力电子产品的基础之一，也是构成电力电子变化装置的核心器件之一，主要用于电力电子设备的整流、稳压、开关、混频等，具有应用范围广、用量大等特点，在消费电子、汽车电子、电子仪器仪表、工业及自动控制、计算机及周边设备、网络通讯等众多国民经济领域均有广泛的应用。
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