元素深度剖析检测

检测项目

元素含量测定：定量分析样品中特定元素的浓度。检测参数包括测量范围0.001% to 100%，精度±0.1%。

元素分布映射：可视化元素在样品表面的空间分布。检测参数包括分辨率1μm，映射面积10mm x 10mm。

表面元素分析：测定样品表层元素组成。检测参数包括深度分辨率5nm，元素范围硼至铀。

深度剖面分析：分析元素随深度变化的分布。检测参数包括深度范围0-10μm，步长0.1nm。

纯度检测：评估材料中主元素纯度。检测参数包括检测限0.01%，重复性±0.05%。

杂质元素检测：识别和定量样品中的杂质元素。检测参数包括元素数量多达70种，灵敏度1ppm。

同位素比率分析：测量元素同位素的比例。检测参数包括比率精度±0.001%，质量范围1-300amu。

化学状态分析：确定元素的化学键合状态。检测参数包括能量分辨率0.1eV，扫描范围0-1500eV。

微观结构元素关联：将元素分布与微观结构关联。检测参数包括空间关联精度±0.5μm，元素种类不限。

定量分析：通过标准曲线进行元素定量。检测参数包括线性范围0.1-1000μg/mL，相关系数>0.999。

检测范围

金属材料：包括钢、铝、铜等合金的元素分析。

陶瓷材料：氧化铝、碳化硅等陶瓷的元素组成检测。

聚合物材料：塑料、橡胶中的元素添加剂和杂质分析。

半导体材料：硅、锗等半导体元素的深度剖析。

生物样品：组织、血液中的微量元素检测。

环境样品：土壤、水中的元素污染分析。

药品和化妆品：活性成分和杂质元素测定。

食品材料：营养成分和有害元素检测。

地质样品：矿物和岩石的元素组成分析。

电子组件：电路板、芯片中的元素分布检测。

检测标准

ASTM E1621: JianCe Test Method for Elemental Analysis by X-ray Fluorescence.

ISO 14706: Surface chemical analysis — Determination of surface elemental contamination on silicon wafers.

GB/T 223: Methods for chemical analysis of iron, steel and alloy.

ASTM E1508: JianCe Guide for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy.

ISO 11885: Water quality — Determination of selected elements by inductively coupled plasma optical emission spectrometry.

GB/T 5009: National food safety standards — Determination of elements in foods.

ASTM D6247: JianCe Test Method for Determination of Elemental Content of Polyolefins by X-ray Fluorescence Spectrometry.

ISO 17294: Water quality — Application of inductively coupled plasma mass spectrometry.

GB/T 20127: Methods for analysis of trace elements in steel.

ASTM E3061: JianCe Test Method for Analysis of Aluminum and Aluminum Alloys by Spark Atomic Emission Spectrometry.

检测仪器

X射线荧光光谱仪：用于非破坏性元素分析。功能：测量元素组成，范围从钠到铀，精度高。

扫描电子显微镜搭配能谱仪：用于微观元素分布分析。功能：提供高分辨率图像和元素映射，空间分辨率达1nm。

电感耦合等离子体质谱仪：用于痕量元素检测。功能：测定超低浓度元素，检测限可达ppt级别。

原子吸收光谱仪：用于特定元素定量分析。功能：测量元素浓度，线性范围宽，操作简便。

二次离子质谱仪：用于深度剖面和表面分析。功能：分析元素随深度变化，深度分辨率优于1nm。