咨询热线: 400-635-0567
像散系数测定:量化光学系统像散程度。参数:像散角测量范围0-10 arcmin,精度±0.1 arcsec。
残余像散量测量:评估校正后剩余像散误差。参数:残余像散量≤0.05λ,RMS波前误差<0.01λ。
波前误差分析:检测像散引起的波前畸变。参数:Zernike系数分析,像散项Z5/Z6精度±0.02μm。
焦点位置精度测定:测量像散校正后的焦点偏移。参数:焦点位移量程±100μm,分辨率0.1μm。
成像分辨率评估:验证校正后成像质量。参数:MTF曲线分析,空间频率50lp/mm时对比度>0.8。
像散校正均匀性测试:评估校正场均匀性。参数:视场内像散变化<5%,多点采样。
温度稳定性测试:检测温度变化对校正精度影响。参数:温度范围-40°C至+85°C,像散漂移<0.1 arcmin/°C。
振动影响评估:分析机械振动对像散校正稳定性。参数:振动频率5-500Hz,振幅0.1g,像散变化量<0.02λ。
长期稳定性检测:评估校正精度随时间变化。参数:连续运行1000小时,像散系数漂移<1%。
环境适应性测试:验证不同环境条件下校正性能。参数:湿度范围10%-90%RH,气压50-110kPa,像散误差<0.03λ。
光学透镜:包括球面透镜、非球面透镜的像散校正验证。
显微镜物镜:高倍率物镜的像散校正精度测定。
望远镜系统:天文和地面望远镜的像散评估。
激光谐振腔:激光器光学腔的像散校正检测。
投影仪镜头:投影光学系统的像散性能测试。
相机镜头:数码和胶片相机镜头的像散校正验证。
光纤通信设备:光纤耦合器和连接器的像散分析。
医疗内窥镜:内窥镜光学系统的像散校正精度测定。
天文仪器:如光谱仪和成像仪的像散评估。
工业检测系统:机器视觉和检测光学部件的像散测试。
ISO 10110-5:2015 光学和光子学-像散和彗差公差。
GB/T 12085-2010 光学仪器环境试验方法。
ASTM E1951-02 光学系统像散测试标准指南。
ISO 14999-4:2015 光学元件波前误差测量。
GB/T 13384-2008 光学仪器通用技术条件。
ISO 9022-2:2015 光学和光学仪器环境试验方法。
ASTM F1094-87 激光系统像散校正标准。
GB/T 16529-2019 光学纤维传像元件测试方法。
像散测量仪:基于干涉原理测量像散系数,功能:量化像散角和焦距差。
波前传感器:采用Shack-Hartmann技术分析波前误差,功能:检测像散引起的波前畸变。
激光干涉仪:利用激光干涉测量像散校正精度,功能:评估焦点位移和残余像散。
自动准直仪:测量光学系统准直误差,功能:验证像散校正后的成像均匀性。
环境试验箱:模拟温湿度变化,功能:测试像散校正的环境适应性。