咨询热线: 400-635-0567
元素浓度分布:测量材料中特定元素的浓度梯度,参数包括浓度值、分布曲线和相对标准偏差。
偏析系数计算:量化元素偏析程度,参数包括偏析系数值、置信区间和统计误差。
界面元素分析:检测材料界面处的元素富集或贫化,参数包括界面厚度、元素浓度比和扩散系数。
晶界偏析评估:分析晶界区域元素分布,参数包括晶界宽度、元素浓度峰值和偏析因子。
相组成定量:确定材料中各相的元素组成,参数包括相分数、元素重量百分比和原子百分比。
元素映射分析:生成元素空间分布图像,参数包括分辨率、对比度和定量精度。
能谱峰拟合:处理能谱数据以分离重叠峰,参数包括峰面积、能量分辨率和拟合优度。
定量校准曲线:建立元素浓度与信号强度关系,参数包括校准斜率、截距和线性相关系数。
检测限计算:评估方法的最小可检测浓度,参数包括信噪比、背景值和检出限值。
不确定度评估:分析测量结果的可靠性,参数包括标准不确定度、扩展不确定度和置信水平。
高温合金:用于航空航天发动机部件,分析元素偏析对高温性能的影响。
半导体材料:检测硅片中掺杂元素分布,确保电子器件均匀性和可靠性。
金属焊接接头:评估焊接区域元素偏析,防止裂纹和腐蚀缺陷。
陶瓷复合材料:分析晶界和相界元素分布,优化力学和热学性能。
钢铁材料:检测碳、锰等元素偏析,改善轧制和处理工艺。
电子封装材料:评估焊点和界面元素扩散,提高连接可靠性。
纳米结构材料:分析纳米尺度的元素偏析,用于催化和其他功能应用。
光伏材料:检测太阳能电池中元素分布,优化能量转换效率。
生物医用合金:评估植入物材料元素偏析,确保生物相容性和耐久性。
聚合物复合材料:分析填料与基体界面元素分布,增强材料性能。
ASTM E1508-12 JianCe Guide for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy
ISO 22309:2011 Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS)
GB/T 17359-2012 电子探针显微分析通用技术条件
ASTM E2090-12 JianCe Practice for Compression Tests of Metallic Materials at Elevated Temperatures with Conventional or Rapid Heating Rates and Strain Rates
ISO 15472:2010 Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectrometers — Calibration of energy scales
GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
ASTM E1621-13 JianCe Guide for Elemental Analysis by Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry
ISO 14594:2014 Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the determination of experimental parameters for wavelength dispersive spectroscopy
GB/T 20725-2006 电子探针显微分析定量点分析方法
ASTM E766-14 JianCe Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope
扫描电子显微镜:提供高分辨率表面形貌图像,用于观察微区结构并配合能谱仪进行元素分析。
能谱仪:检测X射线能谱,实现元素定性定量分析,测量元素浓度和分布。
电子探针微分析仪:专门用于微区元素定量分析,提供高精度元素浓度和偏析数据。
X射线荧光光谱仪:用于整体材料元素分析,辅助偏析研究并提供 bulk 浓度参考。
透射电子显微镜:提供纳米级分辨率图像和能谱分析,用于精细偏析和界面研究。