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锂析出厚度测量:定量分析负极表面锂金属层的厚度。厚度范围0.1-100μm,测量精度±0.1μm。
析锂分布映射:可视化锂析出在电极表面的空间分布。扫描面积10mm x 10mm,空间分辨率1μm。
晶体结构分析:识别析出锂的晶体相和取向。衍射角范围5° to 80°,步长0.01°。
实时动力学监测:跟踪析锂过程的时间演化。时间分辨率1秒,持续时间可达24小时。
应力应变测量:检测析锂引起的机械应力变化。应力范围0-100MPa,精度±0.1MPa。
温度依赖性测试:在不同温度下监测析锂行为。温度范围-20°C to 60°C,控制精度±0.5°C。
电流密度影响:评估不同充放电速率下的析锂倾向。电流密度范围0.1-10mA/cm²。
电解质界面分析:研究固体电解质界面层与析锂的相互作用。界面厚度测量精度1nm。
循环寿命测试:长期循环中析锂的累积效应评估。循环次数 up to 1000次,每循环容量衰减监测。
安全阈值确定:识别析锂导致热失控的临界条件。温度监测范围 up to 200°C,升温速率0.1-10°C/min。
锂离子电池负极材料:包括石墨、硬碳、硅基复合材料等。
固态电解质电池:氧化物和硫化物基固态电池。
高能量密度锂离子电池:用于电动汽车和大型储能系统。
快充型锂离子电池:设计支持快速充电的电池产品。
低温性能电池:在低温环境下操作的锂离子电池。
钠离子电池:类似锂析出现象的钠金属析出检测。
钾离子电池:新兴碱金属离子电池的析出检测。
锂金属电池:直接使用金属锂作为负极的电池系统。
柔性可穿戴电池:可弯曲和拉伸的电池设计。
微型电池和薄膜电池:用于微型电子设备的电池。
ASTM E1441-11: JianCe Guide for X-Ray Emission Spectrometry.
ISO 12677: Chemical analysis of refractory products by X-ray fluorescence.
GB/T 13390-2008: Method for X-ray diffraction analysis of metallic materials.
GB/T 17359-2012: General rules for quantitative analysis by X-ray fluorescence spectrometry.
ISO 14594: Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the specification of certified reference materials.
ASTM E1621-13: JianCe Guide for Elemental Analysis by Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry.
GB/T 19500-2004: X-ray photoelectron spectroscopy analysis method.
ISO 15470: Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Description of selected instrumental performance parameters.
ASTM E1508-12: JianCe Guide for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy.
GB/T 20725-2006: General rules for electron probe microanalysis.
X射线衍射仪:用于分析材料晶体结构,在本检测中识别锂金属的衍射峰和相变。
X射线荧光光谱仪:进行元素成分分析,检测析锂区域元素分布和浓度。
原位X射线成像系统:实时可视化电池内部结构变化,监测析锂形成和生长。
同步辐射X射线源:提供高亮度、高分辨率X射线,用于精细析锂检测和动力学研究。
X射线光电子能谱仪:分析表面化学状态,研究析锂界面化学反应和组成。
能量色散X射线光谱仪:与电子显微镜联用,进行微区元素分析和映射。
X射线计算机断层扫描仪:三维成像电池内部结构,评估析锂的空间分布和体积。