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表面电阻率:测量材料表面电阻值,参数包括测量范围1e3 to 1e12 Ω。
体积电阻率:评估材料内部电阻特性,参数包括测试精度±5%。
静电衰减时间:记录电荷消散所需时间,参数包括时间分辨率0.1 ms。
电荷半衰期:测定电压衰减至50%的时间,参数包括精度±2%。
离子污染浓度:测量表面离子残留量,参数包括检出限0.01 μg/cm²。
表面电荷密度:计算单位面积电荷量,参数包括范围1e-9 to 1e-6 C/m²。
介电常数:评估材料绝缘性能,参数包括频率范围10 Hz to 1 MHz。
损耗因数:测量能量损耗程度,参数包括tan δ测量精度0.001。
击穿电压:确定材料电气击穿点,参数包括电压范围0-10 kV。
表面电阻均匀性:分析表面电阻分布一致性,参数包括多点测量偏差<5%。
半导体封装材料:环氧模塑料、陶瓷基板等绝缘和导电材料。
高分子聚合物:PC/ABS合金、抗静电PE薄膜等塑料制品。
医疗器械组件:导管管路系统、手术器械手柄等医用设备。
电子工业耗材:防静电周转箱、SMT托盘等生产辅助材料。
航空航天材料:碳纤维复合材料、舱内装饰件等高性能组件。
纺织品:抗静电织物、防护服等纤维制品。
涂料和涂层:导电涂料、绝缘涂层等表面处理材料。
塑料制品:注塑件、薄膜等日常工业产品。
橡胶制品:密封圈、导电橡胶等弹性材料。
金属表面处理:电镀层、氧化层等改性表面。
ASTM D257:直流电阻或电导率测试标准 for insulating materials。
ISO 3915:导电塑料电阻率测量方法。
GB/T 1410-2006:固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法。
IEC 60093:体积电阻率和表面电阻率测试方法 for electrical insulating materials。
ANSI/ESD S11.11:静电消散平面材料表面电阻测量规范。
表面电阻测试仪:用于测量材料表面电阻,量程1e3 to 1e12 Ω。
高阻计:测量高电阻值设备,电流测量范围10 fA to 20 mA。
静电衰减测试系统:评估电荷消散时间,时间分辨率0.1 ms。
离子色谱仪:分析离子污染浓度,检出限0.1 ppb。
阻抗分析仪:测量介电性能,频率范围10 μHz to 20 MHz。