咨询热线: 400-635-0567
元素分布映射:使用高分辨率扫描技术绘制材料中元素的二维或三维分布图;具体检测参数包括空间分辨率优于1微米,元素检测限达到百万分之一级别。
线扫描分析:沿指定路径进行元素浓度测量;具体检测参数包括扫描步长可调范围0.1-10微米,元素识别精度误差小于5%。
点分析:在特定微区进行定点元素成分测定;具体检测参数包括分析点直径小于2微米,计数时间10-60秒可调。
面分布分析:对整个区域进行元素成像;具体检测参数包括成像面积最大10毫米×10毫米,像素分辨率可达1024×1024。
定量分析:基于标准样品进行元素浓度计算;具体检测参数包括校准曲线线性相关系数大于0.99,相对标准偏差低于3%。
定性分析:识别材料中存在的主要和微量元素;具体检测参数包括元素识别范围原子序数4-92,能谱采集时间30-300秒。
深度剖面分析:测量元素随深度的分布变化;具体检测参数包括深度分辨率10纳米,溅射速率0.1-10纳米/秒。
相分布分析:确定不同相中元素的分布情况;具体检测参数包括相识别基于元素组成,空间关联精度高于95%。
成分梯度分析:评估元素浓度在界面或梯度区域的变化;具体检测参数包括梯度测量精度±0.1原子百分比,扫描速度可调。
元素比率计算:计算特定元素之间的比例关系;具体检测参数包括比率误差小于2%,适用于化学计量分析。
半导体器件:用于分析集成电路中的掺杂元素分布和缺陷。
金属合金:检测合金中元素的偏析、相组成和均匀性。
陶瓷材料:评估陶瓷烧结过程中的元素扩散和界面反应。
生物样品:分析组织或细胞中的微量元素分布,用于医学研究。
环境颗粒:测定大气或水中颗粒物的元素来源和污染程度。
化石燃料:研究煤炭或石油中杂质元素的分布和影响。
电子元件:检查焊点、导线中的元素迁移和腐蚀情况。
涂层材料:分析防护涂层或薄膜的元素组成和厚度均匀性。
矿物样品:用于地质勘探中的矿物鉴定和元素赋存状态分析。
复合材料:评估纤维增强材料中界面元素分布和结合强度。
ASTM E1508标准:微区元素分析的一般指南和程序要求。
ISO 14594标准:电子探针微量分析的技术规范和方法验证。
GB/T 17359标准:微区元素分布映射的测试方法和报告格式。
ASTM E1621标准:用于能谱仪定量分析的标准实践。
ISO 22309标准:能谱分析中的元素定量和定性程序。
GB/T 19502标准:涉及微区分析中的样品制备和测量条件。
ASTM E2809标准:深度剖面分析的技术要求和数据解释。
ISO 16592标准:波谱仪在微区分析中的应用规范。
GB/T 33344标准:元素分布映射在材料科学中的通用标准。
ASTM E3065标准:用于生物样品的微区元素分析指南。
扫描电子显微镜:提供高分辨率表面成像,结合能谱仪进行元素分布映射。
能谱仪:用于元素定性定量分析,通过X射线能谱采集实现快速元素识别。
波谱仪:提供高精度元素分析,基于波长分散技术减少谱线重叠误差。
离子探针:用于深度剖面和三维元素分布分析,通过离子溅射获取内部信息。
X射线荧光光谱仪:进行非破坏性元素分析,适用于大面积或整体样品筛查。