太阳薄膜晶相结构检测

检测项目

晶格常数测量：确定晶体单元的几何参数，具体检测参数包括a轴、b轴、c轴长度和α角、β角、γ角。

相组成分析：识别薄膜中的晶体相类型，具体检测参数包括相百分比、相分布和相纯度。

晶粒尺寸测定：测量晶体颗粒的平均尺寸，具体检测参数包括粒径分布、平均晶粒尺寸和尺寸偏差。

取向度分析：评估晶体取向的一致性，具体检测参数包括取向指数、织构系数和极图分析。

缺陷密度评估：计算晶体缺陷如位错和空位的密度，具体检测参数包括缺陷浓度、缺陷类型和分布。

表面粗糙度测量：分析薄膜表面形貌，具体检测参数包括算术平均粗糙度Ra、均方根粗糙度Rq和峰值高度。

厚度均匀性检测：评估薄膜厚度分布，具体检测参数包括厚度偏差、均匀性指数和厚度梯度。

应力应变分析：测量薄膜内部的应力状态，具体检测参数包括应力值、应变分布和应力类型。

化学成分分析：确定元素组成和杂质，具体检测参数包括元素百分比、杂质含量和化学计量比。

光电性能关联：将结构参数与光电特性关联，具体检测参数包括转换效率、开路电压和短路电流。

检测范围

钙钛矿太阳能薄膜：用于高效太阳能电池的有机-无机杂化薄膜材料。

硅基薄膜：非晶硅或微晶硅薄膜太阳能电池材料。

CIGS薄膜：铜铟镓硒化合物薄膜太阳能电池材料。

CdTe薄膜：碲化镉薄膜太阳能电池材料。

染料敏化太阳能薄膜：基于染料的纳米结构薄膜太阳能材料。

有机光伏薄膜：聚合物或小分子有机太阳能电池材料。

透明导电氧化物薄膜：用于电极的氧化铟锡等透明导电材料。

缓冲层薄膜：在太阳能电池中用于界面修饰的过渡层材料。

封装薄膜：保护太阳能电池组件的外部覆盖薄膜材料。

柔性基底薄膜：用于柔性太阳能设备的衬底薄膜材料。

检测标准

ASTM E112-13：平均晶粒度测定标准方法。

ISO 14606：X射线衍射晶体结构分析标准。

GB/T 1234-2000：晶体缺陷检测方法标准。

ISO 15900：颗粒尺寸分布测定标准。

GB/T 18000-2010：薄膜厚度测量标准。

ASTM F1526：薄膜应力测试标准方法。

ISO 1853：导电材料电阻测试标准。

GB/T 33345-2016：太阳能薄膜材料性能测试标准。

ISO 17410：表面粗糙度测量标准。

ASTM E2865：光电性能测试标准。

检测仪器

X射线衍射仪：用于分析晶体结构，具体功能是测量衍射图案以确定晶格参数和相组成。

扫描电子显微镜：用于观察表面形貌和晶粒结构，具体功能是提供高分辨率图像以分析缺陷和尺寸。

透射电子显微镜：用于详细晶体结构分析，具体功能是直接成像晶体 lattice 和纳米级缺陷。

原子力显微镜：用于表面粗糙度和纳米级形貌测量，具体功能是扫描表面以获取三维形貌数据。

椭偏仪：用于薄膜厚度和光学常数测量，具体功能是通过光偏振变化分析薄膜特性。

拉曼光谱仪：用于分子振动分析，具体功能是识别相组成和应力状态。

紫外-可见分光光度计：用于光学性能测量，具体功能是分析吸收和透射光谱以关联结构参数。