咨询热线: 400-635-0567
咨询热线: 400-635-0567
ISO28000标准体系下薄膜厚度测定包含三大核心检测项目：
湿膜厚度测定：针对施工阶段的未固化涂层进行即时测量
干膜厚度测定：对固化后涂层的最终厚度进行精确计量
复合涂层测量：包含底漆/中间层/面漆的分层测量与总厚度评估
附加检测项目涵盖边缘覆盖度分析、涂层均匀性评价以及特殊基材（曲面/多孔材料）的厚度补偿测量。所有项目均需执行温度（23±2℃）与湿度（50±5%RH）的环境控制。
本标准的应用领域覆盖八大工业门类：
防护涂料：船舶/桥梁/储罐防腐涂层
电子材料：PCB阻焊层/半导体封装膜
汽车工业：电泳漆/清漆/底涂
包装材料：食品级复合膜/阻隔涂层
光学薄膜：显示屏偏光膜/AR镀层
建筑涂料：外墙保温层/防水膜
工业油墨：印刷电路板油墨/3D打印层
纳米涂层：超薄功能化表面处理层
标准规定六类法定测量方法及其适用场景：
| 方法类别 | 原理描述 | 分辨率(μm) | 适用场景 |
|---|---|---|---|
| 机械接触法 | 采用探针式测头进行接触式测量 | 1.0 | 硬质基材干膜测量 |
| 涡流感应法 | 基于电磁感应原理的非破坏检测 | 0.5 | 导电基材非导磁涂层 |
| 磁性吸附法 | 利用永磁体磁通量变化计算厚度 | 1.0 | 钢铁基材非磁性涂层 |
| 超声波法 | 声波反射时差测量多层结构 | 2.0 | 多层复合涂层测量 |
| β射线反散射法 | 同位素源激发电子散射分析 | 0.1 | 超薄镀层测量（＜10μm） |
| 光学显微法 | 金相切片结合图像分析系统 | 0.05 | 实验室精确仲裁测量 |
符合ISO28000标准的典型测量设备包括：
配备金刚石测头（直径3mm），最大载荷50g，具备温度补偿功能。
集成F探头（铁基）/N探头（非铁基），符合BS EN ISO 2360标准。
配备V260探头（5MHz），支持多层涂层自动分层识别。
集成500万像素CCD摄像头及AutoCAD插件模块。
采用Pm-147放射源（活度10mCi），配备自动安全联锁装置。
配置405nm激光光源与0.1nm分辨率Z轴扫描系统。
注：所有仪器均需通过CNAS认可的计量机构年度校准，校准标准器应溯源至国家基准。
确定测试对象与安排：确认测试对象并进行初步检查，确定样品寄送或上门采样安排；
制定验证实验方案：与委托方确认与协商实验方案，验证实验方案的可行性和有效性；
签署委托书：签署委托书，明确测试详情，确定费用，并按约定支付；
进行实验测试：按实验方案进行试验测试，记录数据，并进行必要的控制和调整；
数据分析与报告：分析试验数据，并进行归纳，撰写并审核测试报告，出具符合要求的测试报告，并及时反馈测试结果给委托方。
