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双折射现象是光学材料的一种重要特性,表现为材料在不同方向上具有不同的折射率。这一特性源于材料内部晶体结构或应力的各向异性,常见于石英、方解石、液晶以及部分高分子聚合物等材料中。双折射材料的检测在光学器件制造、液晶显示技术、激光系统设计等领域具有重要意义。通过精确测量双折射参数,可以评估材料的均匀性、应力分布及光学性能,进而优化材料加工工艺和器件性能。
双折射检测技术主要适用于以下领域:
双折射率(Δn) 双折射率是材料在特定波长下最大与最小折射率的差值,直接影响光通过材料时的相位延迟。该参数是评估材料光学性能的核心指标。
光程差(OPD) 光程差由双折射率和材料厚度共同决定,通常以纳米(nm)为单位表征,用于计算波片的相位延迟能力。
应力分布 材料内部残余应力会导致非均匀双折射,通过应力分布检测可评估加工工艺(如退火、切割)的优化程度。
均匀性检测 分析材料表面或内部双折射特性的空间分布,确保光学元件的性能一致性。
ASTM D4093-23 Standard Test Method for Photoelastic Measurements of Birefringence and Residual Strains in Transparent or Translucent Plastic Materials 该标准规定了透明/半透明塑料材料双折射与残余应力的光弹性测量方法。
ISO 14782:2020 Plastics—Determination of birefringence 国际标准中关于塑料材料双折射率的测试流程及数据处理要求。
GB/T 11168-2021 光学晶体双折射率测试方法 中国国家标准,涵盖晶体材料双折射率的干涉测量技术要求。
JIS K 7142:2018 Testing method for birefringence of plastic optical materials 日本工业标准中针对塑料光学材料双折射的偏振光检测规范。
原理:利用偏振光通过样品时产生的干涉条纹分析双折射特性。 仪器:配备补偿器(如Senarmont补偿器)的偏振光显微镜。 步骤:
原理:通过测量反射或透射光的偏振态变化,反演材料的双折射参数。 仪器:光谱型椭偏仪(如J.A. Woollam M-2000)。 步骤:
原理:利用马赫-曾德尔干涉仪或斐索干涉仪,测量双折射材料引入的相位差。 仪器:激光干涉仪(如Zygo Verifire)、相位调制器。 步骤:
原理:基于应力-光学定律,通过双折射效应可视化材料内部应力分布。 仪器:光弹性仪(如Sharples Stress Viewer)。 步骤:
近年来,双折射检测技术正朝着高精度、自动化和多参数融合方向发展:
双折射材料检测是保障光学器件性能与材料可靠性的关键技术。随着新型光学材料(如超构表面、二维材料)的涌现,检测方法需持续创新以适应更高精度与复杂场景的需求。通过标准化流程与先进仪器的结合,双折射检测将在光电子、微纳制造等领域发挥更重要的作用。