检测服务
我们的服务
多晶硅纯度检测
检测范围
太阳能级多晶硅、电子级多晶硅、半导体级多晶硅、冶金级多晶硅、化学级多晶硅、光伏多晶硅片、半导体多晶硅片、多晶硅锭、多晶硅铸锭、多晶硅块、多晶硅棒、多晶硅粒、多晶硅粉末、多晶硅薄膜、多晶硅太阳能电池、多晶硅半导体器件、多晶硅集成电路、多晶硅光电探测器、多晶硅传感器、多晶硅光电子器件、多晶硅复合材料、多晶硅涂层、多晶硅绝缘体、多晶硅陶瓷、多晶硅合金、多晶硅靶材、多晶硅光电材料、多晶硅热电材料、多晶硅光学材料、多晶硅绝缘材料等。
检测方法
四极质谱法:利用质谱仪测量样品中不同同位素或分子碎片的质量-电荷比。检测多晶硅中的杂质元素和同位素组成。
感应耦合等离子体质谱法:将样品转化为等离子体,然后通过质谱仪检测其中的微量元素和超微量元素。高灵敏度地检测多晶硅中的金属和非金属杂质。
红外光谱法:测量样品对特定红外光频率的吸收,以识别其中的官能团。检测多晶硅中的有机杂质。
X射线荧光光谱法:通过测量样品在X射线激发下发出的荧光来确定元素组成。快速无损检测多晶硅中的元素含量。
原子吸收光谱法:测量样品中特定元素的原子吸收特定波长的光。测定多晶硅中的特定金属杂质。
气相色谱法:利用样品中各组分在固定相和载气中的分配系数差异进行分离。检测多晶硅中的有机杂质。
高效液相色谱法:通过高压泵将样品通过色谱柱,根据样品与固定相的相互作用进行分离。分析多晶硅中的有机和无机杂质。
扫描电子显微镜-能量色散X射线光谱法:通过扫描电子显微镜结合能量色散X射线光谱仪分析样品的表面元素分布。评估多晶硅的表面杂质和微观结构。
二次离子质谱法:利用高能离子束轰击样品表面,分析被轰击出的二次离子。高灵敏度和高空间分辨率地检测多晶硅中的杂质。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托。
检测标准
GB/T 29054-2019 太阳能电池用铸造多晶硅块
GB/T 37049-2018 电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
GB/T 37051-2018 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法
GB/T 35309-2017 用区熔法和光谱分析法评价颗粒状多晶硅的规程
GB/T 25074-2017 太阳能级多晶硅
GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
GB/T 12963-2014 电子级多晶硅
GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块
GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
GB/T 25074-2010 太阳能级多晶硅
GB/T 24579-2009 酸浸取.原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
GB/T 24582-2009 酸浸取.电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
GB/T 32652-2016 多晶硅铸锭石英坩埚用熔融石英料
中析研究所为您提供的增值服务包括:
检验测试:提供材料、食品、化工、高分子、微生物、纺织品、电工电子、机械设备等领域的检验测试服务;
技术服务:提供未知物分析、成分分析、元素分析、失效分析、微观观察等服务。
可靠性测试:气候环境测试、机械环境测试、综合环境测试、包装运输测试、IP防护测试、物理性能测试、电磁兼容环境测试、电学性能测试、失效分析测试等。
检测流程
1.在线或电话咨询,沟通测试项目;
2.寄送样品或上门取样,确认实验方案;
3.签署保密协议,支付测试费用;
4.整理实验数据,出具测试报告;