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表面拓扑分析:重构表面三维形状轮廓,检测参数包括高度分辨率0.1微米,精度0.5%,覆盖范围500μm500μm。
粗糙度参数测量:计算表面纹理的平均粗糙度,检测参数包括Sa值范围0.1-100μm,Sz值精度1%,测量速度每秒100点。
台阶高度评估:分析表面台阶高低差,检测参数包括高度差范围0.01-1000μm,垂直分辨率10纳米。
轮廓重构:重建表面轮廓线路径,检测参数包括采样间距0.5微米,路径长度精度0.2%,重复性99%以上。
曲率分布分析:测量表面曲率变化,检测参数包括曲率半径范围0.1-100mm,分布图分辨率512512像素。
缺陷探测:识别表面凹坑或划痕,检测参数包括缺陷尺寸灵敏度0.05μm,位置误差0.1μm。
纹理方向评估:评估表面纹理方向和强度,检测参数包括角度分辨率0.1度,强度量化范围0-100单位。
体积计算:计算微小孔洞或凸起体积,检测参数包括体积范围0.001-1000立方微米,误差率0.3%以内。
磨损分析:测量磨损后表面变化,检测参数包括磨损深度精度0.2μm,变化率计算每秒10次。
薄膜厚度测定:测量涂层或薄膜厚度,检测参数包括厚度范围10纳米-100微米,层间分辨率1纳米。
半导体器件:用于芯片表面微观结构分析和缺陷控制。
机械零件:如轴承齿轮表面磨损检测和质量保证。
光学元件:透镜镜面表面形状评估和光学校准。
生物医学设备:植入体表面处理效果分析和生物兼容性测试。
汽车零部件:发动机部件表面完整性评估和耐久性监控。
航空材料:涡轮叶片表面粗糙度检测和气动性能优化。
3D打印产品:层间粘合表面评估和打印精度验证。
电子元件:印刷电路板表面分析及焊点质量控制。
涂层材料:油漆涂层厚度测量和均匀性检查。
地质样本:岩石表面形态研究和地质构造分析。
ASTME1920表面轮廓测量标准方法。
ISO25178几何产品规范表面纹理参数定义。
GB/T12767表面粗糙度参数计算规范。
ISO16610表面滤波器标准应用指南。
GB/T30700三维表面测量方法要求。
ASTMF1811表面三维重构校准协议。
ISO4287表面轮廓术语和定义。
GB/T6060表面粗糙度比较样块规程。
ISO5436表面测量仪器校准标准。
ASTMD7127表面三维数据采集程序。
激光扫描共聚焦显微镜:高分辨率表面三维扫描仪器,功能包括获取微米级拓扑图像,横向分辨率0.1微米,纵向分辨率10纳米。
白光干涉仪:表面高度差测量仪器,功能包括快速三维重构,垂直分辨率1纳米,扫描速度每秒100点。
原子力显微镜:原子级别表面成像仪器,功能包括纳米级拓扑分析,力分辨率0.1纳牛,扫描范围100微米100微米。
光学轮廓仪:非接触式表面重构仪器,功能包括大面积表面测量,测量精度0.2%,速度每秒200帧。
三维激光扫描仪:大型物体表面重构仪器,功能包括高速数据采集,分辨率0.01毫米,覆盖距离1米。
表面粗糙度测试仪:专用三维参数计算仪器,功能包括实时粗糙度分析,Sa值范围0.01-100微米,误差0.5%。