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晶面间距测量:基于布拉格定律计算晶面间距。具体检测参数包括衍射角范围20-90度,分辨率0.001度,误差低于0.1%。
取向分布分析:量化晶体择优取向的统计分布。具体检测参数包括方位角偏差精度0.1度,取向密度函数计算范围0-1。
晶粒度测定:评估晶粒平均尺寸及其分布。具体检测参数包括尺寸范围0.1-100微米,标准差小于5%,基于谢乐方程分析。
残余应力分析:测量材料内部应力引起的晶格畸变。具体检测参数包括应力范围0-1000MPa,精度10MPa,使用sinψ方法。
织构强度计算:确定晶体择优取向程度。具体检测参数包括织构系数0-1,分辨率0.01,峰值强度偏差2%以内。
相组成鉴定:识别材料中的结晶相及其比例。具体检测参数包括衍射峰匹配精度0.01度,相含量误差小于1%。
位错密度评估:估计晶体缺陷密度。具体检测参数包括密度范围10^6-10^12cm^{-2},基于峰宽化分析,标准差<3%。
晶格常数测定:计算晶胞的a,b,c轴参数。具体检测参数包括精度0.001,角度范围覆盖所有晶系。
择优取向验证:确认特定方向晶体取向一致性。具体检测参数包括取向角偏差<0.5度,重复性测试通过率高于99%。
全谱拟合分析:使用Rietveld方法模拟衍射图谱。具体检测参数包括拟合优度Rwp<10%,背景扣除误差低于0.5%.
单晶硅片:半导体器件制造中用于芯片基底材料。
高温合金:航空航天发动机部件的耐高温材料。
陶瓷材料:氧化锆等用于生物医学植入物的硬质材料。
薄膜涂层:工具表面硬涂层以提高耐磨性能。
多晶金属:钢铁等结构工程材料的晶粒分析。
纳米材料:催化领域应用的纳米颗粒晶体结构。
复合材料:纤维增强聚合物的界面取向评估。
地质样品:矿石分析中的矿物晶体鉴定。
聚合物晶体:包装材料聚乙烯的结晶度测定。
生物晶体:药物研发中蛋白质晶体的结构验证。
ASTME2627:晶粒尺寸测定的标准方法。
ISO24173:电子背散射衍射分析指南。
GB/T231.1:金属材料洛氏硬度测试规范。
ASTME112:晶粒度测定通用规程。
ISO642:X射线衍射术语定义标准。
GB/T13301:金属材料金相检验方法要求。
ASTME975:晶粒取向分布测定标准。
ISO14706:表面化学分析规范。
GB/T30776:电子背散射衍射测试方法。
ASTMF2024:残余应力测量标准。
X射线衍射仪:通用仪器用于收集衍射图谱;在本检测中测量角度和强度,分辨率达0.0001度。
电子背散射衍射系统:显微镜附件提供微观取向图;在本检测中生成晶粒取向分布,角度精度0.01度。
中子衍射仪:适用于大体积样品分析;在本检测中测量内部应力,穿透深度超过10厘米。
劳厄相机:用于单晶取向测定;在本检测中记录劳厄斑点图案,曝光时间可控在1-60秒。
高分辨率衍射仪:精确角度测量设备;在本检测中执行精细分析,分辨率0.0001度,温度范围-150至1500C。