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建立时间分析:测量信号在时钟边沿前必须稳定的最小时间。具体检测参数:建立时间阈值和路径延迟范围。
保持时间分析:确定信号在时钟边沿后必须维持稳定的最小时间。具体检测参数:保持时间裕量和时钟周期偏差。
时钟偏移测量:评估时钟信号在不同路径间的到达时间差异。具体检测参数:最大偏移值和频率响应范围。
路径延迟计算:分析信号从源点到终点的传播延迟。具体检测参数:延迟值和负载电容影响。
裕量分析:检查时序约束的余量是否满足设计要求。具体检测参数:正裕量和负裕量阈值。
过渡时间测量:评估信号从低电平到高电平的转换时间。具体检测参数:上升时间和下降时间精度。
串扰影响测试:确定相邻信号线间耦合导致的时序变化。具体检测参数:串扰电压幅度和频率范围。
电源噪声分析:测量电源波动对时序性能的影响。具体检测参数:噪声幅度和频率响应。
温度变化测试:评估温度波动引起的时序参数漂移。具体检测参数:温度范围和漂移系数。
工艺角分析:模拟不同制造工艺下的时序变化。具体检测参数:工艺参数和变异系数。
FPGA器件:可编程逻辑器件用于快速原型和时序验证。
ASIC设计:定制集成电路在量产前的时序收敛评估。
微处理器芯片:高性能计算单元的核心时序性能检测。
存储器电路:动态和静态存储器的存取时间分析。
通信芯片:无线和有线通信系统的时序约束检查。
汽车电子系统:车载控制单元的时序可靠性测试。
消费电子产品:智能手机和平板电脑的芯片时序优化。
航空航天设备:飞行控制系统的时序安全验证。
医疗设备组件:植入式器械的时序稳定性评估。
工业控制系统:自动化设备的实时时序性能检测。
IEEE JianCe9.1-2013 边界扫描测试标准。
ISO/IEC 15408-2020 信息技术安全评估标准。
GB/T 15540-2006 数字电路时序参数测量方法。
ASTM F1241-2022 集成电路时序分析规范。
IEC 62304-2015 医疗设备软件时序要求。
GB/T 17626-2018 电磁兼容性时序测试标准。
ISO 26262-2018 汽车功能安全时序验证。
IEEE 1800-2017 系统Verilog时序建模标准。
GB/T 20234-2015 通信设备时序性能要求。
ASTM E231-2021 电子元件时序可靠性测试。
时序分析仪:用于测量信号传播延迟和时钟偏移。在本检测中的具体功能:捕获路径延迟数据和裕量计算。
逻辑分析仪:分析数字信号的时序逻辑状态。在本检测中的具体功能:验证建立时间和保持时间约束。
示波器:测量信号波形和过渡时间。在本检测中的具体功能:检测上升时间和下降时间精度。
信号发生器:产生可控时钟和测试信号。在本检测中的具体功能:模拟不同频率和幅度的时序场景。
热环境测试箱:控制温度变化以评估时序漂移。在本检测中的具体功能:模拟极端温度下的时序稳定性。
电源噪声模拟器:引入电源波动以测试时序影响。在本检测中的具体功能:测量噪声对路径延迟的效应。
串扰测试仪:评估相邻信号耦合导致的时序变化。在本检测中的具体功能:分析串扰电压对建立时间的干扰。