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MSL分级测试:确定元器件潮湿敏感等级,依据回流焊峰值温度下失效发生率划分1-6级
吸湿率测定:量化材料水分吸收速率,测量条件30C/60%RH至85C/85%RH梯度变化
饱和含水量测试:记录85C/85%RH环境下单位质量材料最大吸湿量,精度0.01%
回流焊模拟试验:模拟SMT工艺热冲击,温度曲线符合J-STD-020标准要求,峰值温度2605C
分层失效分析:通过扫描声学显微镜检测封装内部界面分离,分辨率10μm
蒸汽压测试:测量密闭环境内水汽压上升速率,压力传感器量程0-35kPa
干燥时间验证:确定不同温湿度条件下器件脱水至安全阈值所需时长
潮气扩散系数测定:计算聚合物材料水分子渗透速率,恒温箱控温精度0.5C
爆米花效应测试:监测回流过程中封装开裂现象,高速摄像机帧率1000fps
湿度指示卡校准:验证32%RH至85%RH区间变色灵敏度,色差值ΔE≤3
半导体封装器件:QFP/BGA/CSP等塑料封装集成电路
光电元器件:LED显示模块、激光二极管外壳
混合集成电路:厚薄膜电路基板组件
陶瓷封装器件:多层陶瓷电容器、石英晶体谐振器
印刷电路板组件:高密度互连HDI板、金属基覆铜板
电子模组:电源管理单元、传感器集成组件
连接器系统:板对板连接器、防水接插件
半导体晶圆:切割前硅片表面钝化层
电子封装材料:环氧模塑料、底部填充胶
微波器件:射频模块外壳、波导组件
J-STD-020非气密表面贴装器件的湿度/回流焊敏感性分级
IPC/JEDECJ-STD-033潮湿敏感器件的处理、包装、运输和使用
IEC60749-20半导体器件机械和气候试验方法潮湿敏感性分级
GB/T4937.22半导体器件机械和气候试验方法表面安装器件的潮湿敏感性
MIL-STD-883微电子器件试验方法标准方法1004吸湿率测试
ISO9001质量管理体系对湿度控制过程的要求
GB/T2423.3电工电子产品环境试验试验Cab:恒定湿热试验
JESD22-A120集成电路潮气扩散特性测试规程
恒温恒湿试验箱:提供85C/85%RH加速吸湿环境,温控精度0.5C
回流焊模拟装置:再现SMT焊接温度曲线,10温区独立控温
微量天平:测量0.1mg级质量变化,分辨率0.01mg
扫描声学显微镜:检测封装内部分层缺陷,扫描频率230MHz
气相色谱仪:分析密封腔体内水汽浓度,检出限0.1ppm