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潮湿敏感等级认证检测

潮湿敏感等级认证检测

潮湿敏感等级认证检测关注电子元器件在潮湿环境下的可靠性评估。该检测通过评估材料吸湿特性、回流焊耐受性、分层失效模式等关键参数,确定器件的防潮储存条件和工艺适应性。主要涉及加速吸湿试验、蒸汽压测试、失效分析等专业技术环节。.

检测项目

MSL分级测试:确定元器件潮湿敏感等级,依据回流焊峰值温度下失效发生率划分1-6级

吸湿率测定:量化材料水分吸收速率,测量条件30C/60%RH至85C/85%RH梯度变化

饱和含水量测试:记录85C/85%RH环境下单位质量材料最大吸湿量,精度0.01%

回流焊模拟试验:模拟SMT工艺热冲击,温度曲线符合J-STD-020标准要求,峰值温度2605C

分层失效分析:通过扫描声学显微镜检测封装内部界面分离,分辨率10μm

蒸汽压测试:测量密闭环境内水汽压上升速率,压力传感器量程0-35kPa

干燥时间验证:确定不同温湿度条件下器件脱水至安全阈值所需时长

潮气扩散系数测定:计算聚合物材料水分子渗透速率,恒温箱控温精度0.5C

爆米花效应测试:监测回流过程中封装开裂现象,高速摄像机帧率1000fps

湿度指示卡校准:验证32%RH至85%RH区间变色灵敏度,色差值ΔE≤3

检测范围

半导体封装器件:QFP/BGA/CSP等塑料封装集成电路

光电元器件:LED显示模块、激光二极管外壳

混合集成电路:厚薄膜电路基板组件

陶瓷封装器件:多层陶瓷电容器、石英晶体谐振器

印刷电路板组件:高密度互连HDI板、金属基覆铜板

电子模组:电源管理单元、传感器集成组件

连接器系统:板对板连接器、防水接插件

半导体晶圆:切割前硅片表面钝化层

电子封装材料:环氧模塑料、底部填充胶

微波器件:射频模块外壳、波导组件

检测标准

J-STD-020非气密表面贴装器件的湿度/回流焊敏感性分级

IPC/JEDECJ-STD-033潮湿敏感器件的处理、包装、运输和使用

IEC60749-20半导体器件机械和气候试验方法潮湿敏感性分级

GB/T4937.22半导体器件机械和气候试验方法表面安装器件的潮湿敏感性

MIL-STD-883微电子器件试验方法标准方法1004吸湿率测试

ISO9001质量管理体系对湿度控制过程的要求

GB/T2423.3电工电子产品环境试验试验Cab:恒定湿热试验

JESD22-A120集成电路潮气扩散特性测试规程

检测仪器

恒温恒湿试验箱:提供85C/85%RH加速吸湿环境,温控精度0.5C

回流焊模拟装置:再现SMT焊接温度曲线,10温区独立控温

微量天平:测量0.1mg级质量变化,分辨率0.01mg

扫描声学显微镜:检测封装内部分层缺陷,扫描频率230MHz

气相色谱仪:分析密封腔体内水汽浓度,检出限0.1ppm