咨询热线: 400-635-0567

纳米药物载体金属残留检测

纳米药物载体金属残留检测

纳米药物载体金属残留检测是保障纳米药物安全性的关键环节,主要针对载体材料(如脂质体、聚合物胶束、无机纳米粒等)中的痕量金属杂质(如铅、镉、汞、砷、铜、铁等)进行定性定量分析,确保其符合药品监管标准及临床应用要求。.

检测项目

铅(Pb)残留量:检测纳米药物载体中铅元素的痕量残留,评估其对生物体的潜在毒性。测量范围0.01~10μg/g,检出限0.005μg/g

镉(Cd)残留量:分析载体材料中镉的含量,镉是已知的致癌物质,需严格控制。测量范围0.005~5μg/g,检出限0.002μg/g

汞(Hg)残留量:检测汞元素在纳米载体中的残留,汞可导致神经毒性。测量范围0.001~1μg/g,检出限0.0005μg/g

砷(As)残留量:分析砷的痕量残留,砷及其化合物具有强毒性。测量范围0.005~5μg/g,检出限0.002μg/g

铜(Cu)残留量:检测铜元素残留,过量铜会引起氧化应激。测量范围0.1~100μg/g,检出限0.05μg/g

铁(Fe)残留量:分析铁的含量,铁过载可能导致组织损伤。测量范围0.5~500μg/g,检出限0.2μg/g

锌(Zn)残留量:检测锌的残留,锌是必需元素但过量有害。测量范围0.1~200μg/g,检出限0.05μg/g

镍(Ni)残留量:分析镍的痕量残留,镍可能引起过敏反应。测量范围0.01~10μg/g,检出限0.005μg/g

铬(Cr)残留量:检测铬元素残留,六价铬具有强毒性。测量范围0.005~5μg/g,检出限0.002μg/g

银(Ag)残留量:分析银的残留,银纳米颗粒可能导致细胞毒性。测量范围0.01~10μg/g,检出限0.005μg/g

钴(Co)残留量:检测钴元素在磁性纳米载体中的残留,钴可引起心脏毒性。测量范围0.005~5μg/g,检出限0.002μg/g

锰(Mn)残留量:分析锰的痕量残留,过量锰会导致神经退行性疾病。测量范围0.01~10μg/g,检出限0.005μg/g

检测范围

脂质体纳米载体:用于包载化疗药物、基因药物的脂质体材料,检测其中的金属残留

聚合物胶束载体:如PLGA、PEG-PLA等聚合物组成的胶束,分析其金属杂质含量

无机纳米载体:包括金纳米颗粒、二氧化硅纳米粒、量子点等,检测其中的金属残留

蛋白质纳米载体:如白蛋白纳米粒、转铁蛋白纳米载体,分析其金属杂质

病毒样颗粒载体:用于基因递送的病毒样颗粒,检测其中的金属残留

纳米乳载体:水包油或油包水型纳米乳,分析其金属杂质含量

碳纳米管载体:单壁或多壁碳纳米管,检测其中的金属催化剂残留(如铁、镍)

石墨烯载体:石墨烯及氧化石墨烯纳米载体,分析其金属杂质

磁性纳米载体:如Fe3O4纳米颗粒,检测其中的金属残留(如铁、钴)

量子点载体:如CdSe/ZnS量子点,分析其金属残留(如镉、硒)

多肽纳米载体:由多肽自组装形成的纳米载体,检测其中的金属残留

树枝状大分子载体:如PAMAM树枝状大分子,分析其金属杂质含量

检测标准

GB/T 21315-2007 动物源性食品中重金属元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

ISO 17294-2:2016 水质 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定多元素 第2部分:样品制备和测定

ASTM D7439-20 用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定润滑油中金属元素的标准试验方法

GB 5009.12-2017 食品安全国家标准 食品中铅的测定

ISO 20647:2018 婴幼儿配方食品和成人营养品 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定元素

ASTM E2371-19 用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定大气颗粒物中金属元素的标准试验方法

GB/T 30706-2014 纳米技术 多壁碳纳米管中金属杂质的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

ISO 11885:2009 水质 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定33种元素

GB/T 23374-2009 食品中铝的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

ASTM D5185-18 用感应耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)测定柴油发动机燃料中元素的标准试验方法

GB/T 17139-1997 土壤质量 镍的测定 火焰原子吸收分光光度法

ISO 15586:2003 水质 石墨炉原子吸收分光光度法测定痕量元素

检测仪器

电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS):用于痕量金属元素的定性定量分析,可同时测定多种金属元素,检出限低至ng/L级,适用于纳米药物载体中痕量金属残留的检测

原子吸收分光光度计(AAS):通过原子吸收光谱法测定金属元素含量,具有高灵敏度和选择性,适用于单一金属元素的测定(如铅、镉、汞等)

电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICP-AES):利用等离子体激发金属元素发射特征光谱,进行多元素同时分析,适用于纳米载体中多种金属元素的快速测定

石墨炉原子吸收光谱仪(GFAAS):通过石墨炉加热使样品原子化,提高检测灵敏度,适用于痕量金属元素(如汞、砷)的测定

原子荧光光谱仪(AFS):基于原子荧光现象测定金属元素,对砷、汞等元素具有高灵敏度,适用于纳米载体中这些元素的检测

离子色谱仪(IC):用于测定金属离子的含量,适用于纳米载体中可溶性金属离子的分析

X射线荧光光谱仪(XRF):通过X射线激发样品产生荧光,进行元素分析,适用于纳米载体中金属元素的快速筛查

激光诱导击穿光谱仪(LIBS):利用激光 ablation 样品产生等离子体,测定金属元素,适用于纳米载体表面金属残留的分析

电感耦合等离子体发射光谱-质谱联用仪(ICP-MS/MS):结合ICP-MS的高灵敏度和串联质谱的高选择性,适用于复杂基质中痕量金属元素的测定

冷蒸气原子吸收光谱仪(CVAAS):专门用于测定汞元素,通过冷蒸气发生技术提高汞的原子化效率,适用于纳米载体中汞的痕量检测