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硅含量检测:测量硅元素浓度以评估材料纯度。具体检测参数:浓度范围0.1%-100%,精度0.01%。
银含量分析:分析银浆中银元素含量以优化导电性。具体检测参数:检测限0.01%,范围0-50%。
镓杂质测定:识别镓杂质水平以控制材料缺陷。具体检测参数:灵敏度1ppm,精度5%。
铜含量测量:测定铜元素含量以评估杂质影响。具体检测参数:范围0.01%-10%,误差0.1%。
铁杂质分析:分析铁杂质以预防效率损失。具体检测参数:检测下限0.1ppm,线性范围0.1-100ppm。
硼掺杂浓度:测量硼掺杂水平以优化半导体性能。具体检测参数:浓度范围10^14-10^20atoms/cm,分辨率1%。
磷掺杂水平:分析磷掺杂量以控制载流子密度。具体检测参数:范围10^15-10^21atoms/cm,精度2%。
氧含量检测:测量氧杂质以评估材料稳定性。具体检测参数:检测限0.1ppm,方法误差10%。
碳杂质分析:评估碳含量以识别污染物。具体检测参数:灵敏度0.5ppm,范围0-100ppm。
重金属残留检测:分析铅、镉等重金属以符合环保标准。具体检测参数:检测限0.01ppm,符合RoHS要求。
单晶硅片:高效太阳能电池的基底材料。
多晶硅片:低成本太阳能电池的常用材料。
硅锭:硅材料的块状形式用于加工。
银浆:光伏电极的导电涂层材料。
背电极材料:太阳能电池背面的导电层。
EVA封装膜:保护组件的乙烯-醋酸乙烯酯膜。
玻璃基板:光伏组件支撑的透明材料。
铝边框:组件框架的轻质金属材料。
接线盒:连接组件的电气部件。
光伏组件:完整太阳能电池板系统。
ASTME1508:X射线荧光光谱分析方法标准。
ISO14703:硅材料中杂质检测通用方法。
GB/T24577:硅材料金属杂质检测规范。
GB/T2828:抽样检验程序标准。
ISO17025:检测实验室能力要求标准。
ASTMD6350:电感耦合等离子体质谱分析标准。
GB/T13747:硅材料化学分析方法规范。
ISO6974:元素分析通用方法标准。
X射线荧光光谱仪:用于非破坏性元素定量分析。在本检测中功能:测量多种元素浓度,范围1ppm-100%。
电感耦合等离子体质谱仪:高灵敏度痕量元素检测仪器。在本检测中功能:分析痕量杂质,检测限ppb级。
原子吸收光谱仪:基于光谱吸收的元素定量设备。在本检测中功能:测定金属元素含量,精度高。
扫描电子显微镜:用于微观结构观察的仪器。在本检测中功能:结合辅助设备进行元素分布映射。
能量色散X射线光谱仪:元素快速识别辅助设备。在本检测中功能:支持元素定性分析,响应时间短。