我们的服务
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可控硅过零检测
检测服务
中化所检测中心提供的可控硅过零检测的适用样品包括：普通可控硅、双向可控硅、逆导可控硅、门极关断可控硅、BTG可控硅、温控可控硅、光控可控硅、二极可控硅、三极可控硅、四极可控硅、导通可控硅等。
测试项目：
过零测试、电气性能测试。
注意：因业务调整，暂不接受个人委托。
检测标准(部分)
DIN EN 60700-1-2016 压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验
IEC 60143-4-2010 电力系统用串联电容器.第4部分:可控硅控制的的串联电容器
JIS C4402-2010 浮充电用可控硅整流器
KS C IEC 60747-6-2-2006 半导体器件.分立器件
IEEE C 62.37-1996 可控硅二极管缓冲保护装置试验规范
IEC 60700-1 Edition 1.1-2003 高压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验
IEC 61954 Edition 1.1-2003 输电和配电用电力电子装置.静态变量补偿器用可控硅阀的试验
KS C IEC 60700-1-2002 高压直流(HVDC)传输用可控硅阀门.第1部分:电气试验
服务信息
检测流程
1.在线或电话咨询，沟通测试项目;
2.寄送样品或上门取样，确认实验方案;
3.签署检测委托书，支付测试费用;
4.整理实验数据，出具测试报告;
检测报告用途
产品质量控制：确定产品质量等级或缺陷
政府监管查验：工商查验，市场监督管控，招投标，申报退税等
协助产品上市：产品需入驻网上商城、大型超市等
助力拓展市场：提高企业的可信度，提高产品竞争力
工业问题诊断：检验测试、分析数据，为技术更新改进提供数据支持
中析研究所检测中心优势
