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中化所检测中心提供的可控硅过零检测的适用样品包括:普通可控硅、双向可控硅、逆导可控硅、门极关断可控硅、BTG可控硅、温控可控硅、光控可控硅、二极可控硅、三极可控硅、四极可控硅、导通可控硅等。

测试项目:

过零测试、电气性能测试。

DIN EN 60700-1-2016 压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验

IEC 60143-4-2010 电力系统用串联电容器.第4部分:可控硅控制的的串联电容器

JIS C4402-2010 浮充电用可控硅整流器

KS C IEC 60747-6-2-2006 半导体器件.分立器件

IEEE C 62.37-1996 可控硅二极管缓冲保护装置试验规范

IEC 60700-1 Edition 1.1-2003 高压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验

IEC 61954 Edition 1.1-2003 输电和配电用电力电子装置.静态变量补偿器用可控硅阀的试验

KS C IEC 60700-1-2002 高压直流(HVDC)传输用可控硅阀门.第1部分:电气试验

检测流程

1.在线或电话咨询,沟通测试项目;

2.寄送样品或上门取样,确认实验方案;

3.签署检测委托书,支付测试费用;

4.整理实验数据,出具测试报告;

检测报告用途

产品质量控制:确定产品质量等级或缺陷

政府监管查验:工商查验,市场监督管控,招投标,申报退税等

协助产品上市:产品需入驻网上商城、大型超市等

助力拓展市场:提高企业的可信度,提高产品竞争力

工业问题诊断:检验测试、分析数据,为技术更新改进提供数据支持