检测服务
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可控硅过零检测
检测服务
中化所检测中心提供的可控硅过零检测的适用样品包括：普通可控硅、双向可控硅、逆导可控硅、门极关断可控硅、BTG可控硅、温控可控硅、光控可控硅、二极可控硅、三极可控硅、四极可控硅、导通可控硅等。
测试项目：
过零测试、电气性能测试。
注意：因业务调整，暂不接受个人委托。
检测标准(部分)
DIN EN 60700-1-2016 压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验
IEC 60143-4-2010 电力系统用串联电容器.第4部分:可控硅控制的的串联电容器
JIS C4402-2010 浮充电用可控硅整流器
KS C IEC 60747-6-2-2006 半导体器件.分立器件
IEEE C 62.37-1996 可控硅二极管缓冲保护装置试验规范
IEC 60700-1 Edition 1.1-2003 高压直流(HVDC)电力传输用可控硅阀.第1部分:电气试验
IEC 61954 Edition 1.1-2003 输电和配电用电力电子装置.静态变量补偿器用可控硅阀的试验
KS C IEC 60700-1-2002 高压直流(HVDC)传输用可控硅阀门.第1部分:电气试验
服务信息
检测流程
：确定测试对象与安排：确认测试对象并进行初步检查，确定样品寄送或上门采样安排；
制定验证实验方案：与委托方确认与协商实验方案，验证实验方案的可行性和有效性；
签署委托书：签署委托书，明确测试详情，确定费用，并按约定支付；
进行实验测试：按实验方案进行试验测试，记录数据，并进行必要的控制和调整；
数据分析与报告：分析试验数据，并进行归纳，撰写并审核测试报告，出具符合要求的测试报告，并及时反馈测试结果给委托方。
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