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氧化铝含量测定:检测陶瓷主体成分,采用灼烧减量法,测量范围45-99.5wt%
二氧化硅含量分析:量化石英相含量,通过氢氟酸挥发法,精度±0.5%
碱金属氧化物检测:测定氧化钾钠含量,火焰光度法检测,检出限0.01%
氧化锆相组成分析:区分单斜相与四方相,X射线衍射法定量,角度范围5-80°
重金属溶出量测试:评估铅镉迁移量,原子吸收光谱法,检出限0.1mg/L
碳化硅游离碳检测:测定未反应碳含量,燃烧红外吸收法,量程0.01-5%
氮化硼结晶度分析:表征六方相纯度,拉曼光谱法,光谱分辨率2cm⁻¹
氧化镁含量测定:检测镁铝尖晶石组分,EDTA滴定法,滴定误差±0.2mL
气孔率测试:测量开口气孔比例,阿基米德法,介质为去离子水
晶粒尺寸分布:分析微观结构特征,扫描电镜法,测量精度±0.5μm
结构陶瓷:氧化铝陶瓷基板、氮化硅轴承等高温承重部件
电子陶瓷:多层陶瓷电容器介质、压电陶瓷换能器等电子元器件
生物陶瓷:羟基磷灰石种植体、氧化锆牙冠等医疗植入材料
耐火材料:高铝砖、镁碳砖等冶金窑炉内衬
建筑陶瓷:釉面砖、卫生洁具等硅酸盐基装饰材料
透明陶瓷:激光增益介质、导弹整流罩等光学器件
核工业陶瓷:核燃料包壳管、屏蔽材料等辐射防护构件
多孔陶瓷:催化剂载体、熔融金属过滤器等蜂窝结构体
复合陶瓷:碳化硅纤维增强陶瓷基高温复合材料
功能陶瓷:热敏电阻、压敏电阻等半导体电子元件
ISO21068-1:2008含碳化硅原料化学分析方法
ASTMC20-00烧成陶瓷表观气孔率测试标准
GB/T4734-1996陶瓷材料及制品化学分析方法
ISO14703:2000陶瓷晶粒尺寸表征技术规范
GB/T16535-2008精细陶瓷线热膨胀系数试验方法
ISO18754:2003精细陶瓷密度测定方法
GB/T5594.8-2015电子元器件用陶瓷材料检测规范
波长色散X射线荧光光谱仪:测量主量元素含量,激发电压4-60kV
X射线衍射分析系统:鉴定晶相组成,角度重现性±0.0001°
电感耦合等离子体发射光谱仪:检测微量杂质元素,检出限ppb级
热膨胀系数测定仪:测量烧结体尺寸变化,温度范围RT-1600℃
高温显微镜:观察烧结行为,最高温度1700℃,分辨率1μm