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线宽精度:测量电路线宽与设计值的偏差范围,检测参数包括偏差±0.5μm、最大允许误差±1μm。
对齐度检测:评估多层铜板对齐偏移量,参数包括偏移量≤10μm、角度偏差±0.5°。
表面缺陷识别:检查铜板表面划痕、气泡或污染,参数包括缺陷尺寸≥5μm、密度≤0.1个/cm²。
蚀刻深度均匀性:测量铜层蚀刻后的深度变化,参数包括深度偏差±2μm、均匀性误差≤5%。
光刻胶厚度一致性:分析光刻胶涂层厚度分布,参数包括厚度范围1-5μm、波动±0.2μm。
分辨率测试:评估光刻后最小可分辨线宽,参数包括分辨率≤5μm、清晰度评级ISO标准。
曝光能量均匀性:检测曝光光源的能量分布,参数包括不均匀性≤3%、能量范围50-100mJ/cm²。
显影残留检测:识别显影后残留的光刻胶或杂质,参数包括残留量≤0.5μg/cm²、覆盖率≥99.5%。
铜层粘附力测试:测量铜与基材的粘附强度,参数包括剥离力≥10N/cm、失效模式分析。
尺寸稳定性评估:分析铜板在温度变化下的尺寸变形,参数包括热膨胀系数≤10ppm/°C、变形量±0.1mm。
孔洞完整性检测:检查通孔或焊盘的完整性,参数包括孔壁光滑度Ra≤0.5μm、直径偏差±2μm。
电气连通性测试:验证电路通断状态,参数包括电阻值≤10mΩ、开路/短路检测。
刚性铜板基材:用于单面或多层电路板的铜覆层基板材料检测。
光刻胶涂层:覆盖铜板的光敏涂层在曝光显影中的性能评估。
蚀刻铜层:经过化学蚀刻后的铜图案层质量检验。
多层电路板组件:包括层间对齐和连接性的铜板组装件检测。
柔性电路铜板:适用于弯曲应用的铜板材料测试。
镀铜通孔:铜板上的电镀通孔结构完整性分析。
防焊涂层:铜板表面的防护层性能检测。
高密度互连铜板:用于微小电路的铜板图案精细度评估。
蚀刻液残留物:铜板蚀刻后残留化学物的浓度监测。
光掩模原型:曝光过程中使用的光掩模铜板质量检验。
铜板成品电路:最终电路产品的功能性和可靠性测试。
铜箔原材料:未加工铜箔的厚度和纯度分析。
依据IPC-6012标准进行刚性铜板电路性能测试。
采用GB/T4588.3规范评估铜板尺寸稳定性。
遵循ISO14645标准测量表面缺陷密度。
依据ASTMF2548方法测试蚀刻深度均匀性。
采用GB/T4677.5规范进行铜层粘附力评估。
遵循IPC-TM-650标准执行电气连通性检测。
依据ISO9001质量管理体系进行全过程控制。
采用GB/T2828.1抽样标准进行缺陷统计。
遵循ASTME112标准评估显微结构分辨率。
依据J-STD-033规范处理铜板湿度敏感性。
光学影像测量系统:用于精确测量线宽和对齐度,功能包括图像捕捉和微米级尺寸分析。
轮廓剖面仪:检测蚀刻深度和表面平整度,功能包括非接触式扫描和粗糙度测量。
扫描电子显微镜:识别表面微观缺陷和残留物,功能包括高倍率成像和元素映射。
热膨胀系数测试仪:评估尺寸稳定性,功能包括温度循环控制和变形量记录。
电阻测试仪:验证电气连通性,功能包括低电阻测量和通断状态判定。
厚度测量仪:分析光刻胶厚度一致性,功能包括多层扫描和波动计算。
能量分布计:监测曝光均匀性,功能包括光强分布图和能量密度输出。