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荧光粉检测

荧光粉检测

检测项目化学成分分析、晶体结构表征、粒径分布测定、比表面积测试、密度测量、热稳定性评估、发光效率测试、色坐标标定、色温测定、显色指数计算、余辉时间测量、量子产率分析、激发光谱扫描、发射光谱扫描、热重分析(TGA)、差示扫描量热(DSC)、X射线衍射(XRD)物相鉴定、扫描电镜(SEM)形貌观察、透射电镜(TEM)微观结构分析、傅里叶红外光谱(FTIR)官能团识别、紫外-可见吸收光谱测试、荧光寿命测定、抗老化性能测试、湿度敏感性评估、酸碱耐受性试验、机械强度测试、批次一致性验证、重金属含量检测、放射性物质筛.

检测项目

化学成分分析、晶体结构表征、粒径分布测定、比表面积测试、密度测量、热稳定性评估、发光效率测试、色坐标标定、色温测定、显色指数计算、余辉时间测量、量子产率分析、激发光谱扫描、发射光谱扫描、热重分析(TGA)、差示扫描量热(DSC)、X射线衍射(XRD)物相鉴定、扫描电镜(SEM)形貌观察、透射电镜(TEM)微观结构分析、傅里叶红外光谱(FTIR)官能团识别、紫外-可见吸收光谱测试、荧光寿命测定、抗老化性能测试、湿度敏感性评估、酸碱耐受性试验、机械强度测试、批次一致性验证、重金属含量检测、放射性物质筛查

检测范围

LED芯片封装荧光层、CRT显示器荧光屏涂层、等离子显示面板荧光单元、液晶背光模组导光板涂层、X射线增感屏荧光膜层、太阳能电池量子点材料、生物标记用纳米荧光颗粒、防伪油墨荧光添加剂、工业探伤荧光渗透剂、道路标识反光涂料荧光组分、纺织物荧光增白剂涂层、塑料制品荧光着色剂混合料、陶瓷釉面荧光装饰层材料、激光晶体掺杂材料组分分析件

检测方法

X射线衍射(XRD):通过布拉格方程解析晶体结构参数与物相组成

扫描电子显微镜(SEM):采用二次电子成像技术实现微米级表面形貌观测

荧光分光光度计:利用单色器分离激发/发射波长测定光谱特性曲线

激光粒度分析仪:基于动态光散射原理计算颗粒尺寸分布特征

积分球光谱测试系统:通过全空间光收集方式精确测定发光效率与色度参数

热重-差热联用仪(TG-DSC):同步监测材料热分解过程与相变焓值变化

时间分辨荧光光谱仪:采用脉冲光源技术测量纳秒级荧光衰减动力学过程

电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES):高灵敏度测定痕量金属元素含量

检测标准

GB/T18911-2008液晶显示器件用背光源组件测试方法

IEC62341-6-1:2017有机发光二极管显示器件环境试验规程

ASTME1247-2017使用积分球测量材料荧光的标准实践

ISO14707:2015表面化学分析-辉光放电发射光谱法通则

JISK0129:2013荧光分析通则

GB/T32655-2016稀土长余辉荧光粉性能测试方法

ASTME2143-2013时间分辨荧光光谱测量标准指南

ISO21214:2018粒度分析-动态光散射法实施规范

GB/T36144-2018LED模块用稀土荧光粉试验方法

EN62148-15:2014光纤通信用半导体器件机械接口标准

检测仪器

高分辨率X射线衍射仪:配备多轴测角器与高温附件,支持原位相变研究

场发射扫描电镜:配置能谱仪(EDS)实现微区成分快速定性分析

稳态瞬态荧光光谱系统:集成液氮低温恒温器与锁相放大模块的高精度光学平台

激光粒度分析仪:采用Mie散射理论算法处理亚微米级颗粒分布数据

全自动比表面及孔隙度分析仪:基于BET原理完成纳米材料比表面积测定

热分析联用系统:同步采集TG-DSC信号并关联质谱气体产物信息

三维显微共聚焦拉曼光谱仪:实现空间分辨的分子振动光谱与元素成像分析

电感耦合等离子体质谱联用仪(ICP-MS):具备ppt级元素检出能力的痕量分析设备