检测项目
总硅含量测定、游离二氧化硅分析、晶体结构表征、元素分布成像、同位素丰度比测定、杂质元素筛查、表面吸附硅检测、体相扩散深度测量、化学形态鉴定、热稳定性评估、氧化态分析、微观形貌观察、粒度分布统计、比表面积测定、孔隙率测试、密度梯度分析、放射性活度校正、包覆层完整性检验、烧结体均匀性评价、腐蚀产物分析、溶解残留物检测、浸出液成分监测、中子吸收截面计算、γ能谱干扰校正、α自吸收效应修正、基体效应补偿验证、标准物质溯源性确认、不确定度评估模型建立、数据可比性验证程序检测范围
核燃料芯块成品、UO2粉末原料、烧结体试样包壳管接触面样品辐照后燃料碎片溶解液沉淀物废料处理中间体回收铀化合物核级六氟化铀转化产物陶瓷基复合材料包覆颗粒燃料元件焊接区域残留物冷却剂循环系统沉积物反应堆压力容器刮擦样品乏燃料贮存容器表面污染物后处理厂管道结垢物化学气相沉积薄膜中子毒物添加剂混合氧化物燃料棒端塞密封材料石墨慢化剂附着物控制棒合金表面氧化层事故容错燃料涂层试验件检测方法
1.X射线荧光光谱法（XRF）：采用波长色散型仪器进行非破坏性快速筛查，测量精度达ppm级2.电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：适用于痕量级（ppb级）硅同位素比值测定3.中子活化分析（NAA）：利用反应堆中子源实现无损检测4.扫描电子显微镜-能谱联用（SEM-EDS）：进行微区元素分布成像5.辉光放电质谱法（GD-MS）：深度剖析体相元素分布6.激光烧蚀电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）：空间分辨率达10μm的二维元素成像7.热电离质谱法（TIMS）：高精度同位素比值测定8.X射线衍射分析（XRD）：晶体结构相态鉴定9.红外吸收光谱法：化学键合状态表征10.α能谱法：铀基体干扰下的硅定量分析检测标准
ASTMC1287-18《铀氧化物中杂质含量的ICP-MS测定标准方法》ISO17034:2016《标准物质生产者能力通用要求》GB/T13695-2021《核级二氧化铀粉末技术条件》EJ/T20054-2014《铀化合物中杂质元素分析方法》ASTMC757-16《核级二氧化铀粉末规格》ISO21483:2017《六氟化铀中金属杂质的测定》GB/T37883-2019《电子探针定量分析方法通则》EJ/T1212.3-2008《烧结二氧化铀芯块分析方法》ASTME3061-17《LA-ICP-MS元素成像标准指南》ISO21238:2007《核燃料循环技术-杂质表征方法》检测仪器
1.波长色散X射线荧光光谱仪：配备铑靶X光管和6种分光晶体2.高分辨扇形磁场ICP-MS：质量分辨率＞10,000（10%峰高）3.场发射扫描电镜：配备超薄窗口能谱仪和电子背散射衍射系统4.多接收器热电离质谱仪：同位素比值测量精度＜0.002%RSD5.全自动密度梯度柱：测量范围1-20g/cm6.激光剥蚀系统：193nm准分子激光器配合双体积样品池7.γ能谱仪：高纯锗探测器配合数字化多道分析器8.α粒子能谱仪：金硅面垒型探测器真空测量室9.高温同步热分析仪：最高温度1600℃的STA-DSC联用系统10.辉光放电质谱仪：射频源功率0-50W连续可调
