石英元件参数自动检测

检测项目

频率偏差、频率温度特性、负载电容、等效串联电阻、静态电容、动态电感、品质因数Q值、谐振电阻、绝缘电阻、耐电压强度、驱动电平特性、老化率、相位噪声、谐波失真、寄生响应抑制比、起振裕度、阻抗特性点容差、剪切模量偏差、封装气密性、电极附着力、抗冲击性能、耐湿热循环能力、抗盐雾腐蚀性、端子强度测试、回流焊耐热性、振动疲劳特性、跌落试验完整性、ESD静电防护等级、磁场干扰耐受度、射频辐射敏感性

检测范围

32.768kHz时钟晶体谐振器、AT切型基频晶体、SC切型恒温晶体振荡器(OCXO)、TCXO温补振荡器模块、VCXO压控振荡器单元、SAW滤波器元件、陶瓷封装SMD晶体(2520/3225/5032)、DIP直插式晶体谐振器(HC-49/U/S)、差分输出晶体振荡器(LVDS/LVPECL)、GPS模块用TCXO单元、蓝牙模块晶体(26MHz/40MHz)、WiFi路由器用高频晶体(24MHz/40MHz)、车载电子耐高温晶体(125℃级)、医疗设备用低相噪OCXO、5G基站恒温晶振(10MHz参考源)、智能电表晶体(12.8MHz)、工业控制SPXO标准振荡器(16MHz)、航空航天级抗辐射晶体(RH1020封装)、微型化1612封装晶体(76.8kHz)、高精度MEMS振荡器(5ppm)、物联网NB-IoT模块晶体(32MHz)、卫星通信超稳晶振(100MHz)、超声波雾化片(1.7MHz)、石英加速度计敏感元件、光模块参考时钟源(156.25MHz)、电力系统同步时钟模块(10MHz基准)、射频识别RFID标签晶体(13.56MHz)、数字电视调谐器用VCTCXO(27MHz)、智能穿戴设备微型晶体(38.4MHz)、高速SerDes接口时钟芯片(XO)

检测方法

1.π网络零相位法：基于IEC60444标准测量串联谐振频率和等效电阻，通过平衡电桥原理实现阻抗精确匹配

2.双端口矢量网络分析：采用S参数测量技术分析元件的传输特性与反射损耗

3.恒温槽扫频测试：在-40℃~+125℃温控范围内进行频率温度特性曲线扫描

4.时域反射计(TDR)法：评估封装引线键合质量与信号完整性

5.相位噪声测试系统：通过鉴相器法测量1Hz~1MHz偏移处的相位噪声谱密度

6.自动探针台测试：适用于晶圆级参数测量实现批量快速筛选

7.机械冲击试验：依据MIL-STD-883进行500G加速度冲击测试

8.氦质谱检漏法：检测TO-8金属封装的气密性达到110⁻⁸Pam/s灵敏度

9.X射线成像检测：非破坏性分析内部电极结构完整性

10.扫频阻抗分析法：采用0.1Ω分辨率LCR表测量动态阻抗特性曲线

检测标准

IEC60122-1:2018石英晶体元件质量评定程序

GB/T12273-2017电子元器件质量评定体系规范

JISC6701:2015晶体谐振器通用规范

MIL-PRF-3098H军用晶体单元通用规范

ANSI/EIA-512:2000晶体元件测试方法

GJB2138A-2015军用石英晶体元件通用规范

SJ/T10090-2016表面贴装石英晶体元件技术要求

IEC60679-1:2017压电滤波器测量方法

AEC-Q200RevD汽车电子元件应力测试标准

TelcordiaGR-468-CORE:2004光通信器件可靠性标准

检测仪器

1.KeysightE5063A网络分析仪：支持1MHz至3GHz频段S参数测量，用于阻抗匹配分析

2.Rohde&SchwarzFSPN相位噪声测试仪：具备-190dBc/Hz底噪性能的相位噪声测量系统

3.TemptronicThermoStreamT-2600：提供-75℃~+225℃快速温变率的温度特性测试平台

4.Agilent4294A精密阻抗分析仪：40Hz至110MHz频段实现0.05%基本精度阻抗测量

5.Chroma3311A自动晶体测试系统：集成π网络法的全参数自动测量装置

6.ThermoScientificHermeticSealTester：氦质谱检漏仪实现10⁻atmcc/s级泄漏率检测

7.DageXD7500VRX射线检测系统：提供5μm分辨率的内部结构成像能力

8.ESPECSH-641温湿度循环箱：满足85℃/85%RH极端环境可靠性试验要求

9.LansmontSAVER9X30冲击试验机：可编程三轴机械冲击测试装置

10.AdvantestU3741频率计数器：12位/秒采样率的高精度频率偏差测量设备