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氧化铝微量元素ICP检测

氧化铝微量元素ICP检测

检测项目铁(Fe)、硅(Si)、钠(Na)、钙(Ca)、镁(Mg)、钾(K)、钛(Ti)、钒(V)、铬(Cr)、锰(Mn)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、镓(Ga)、锗(Ge)、砷(As)、硒(Se)、锶(Sr)、钼(Mo)、银(Ag)、镉(Cd)、锡(Sn)、锑(Sb)、钡(Ba)、钨(W)、铂(Pt)、金(Au)、汞(Hg)、铅(Pb)、铋(Bi)、钍(Th)、铀(U)检测范围冶金级氧化铝粉体、高纯氧化铝陶瓷基板、α-氧化铝研磨介质、γ-氧化铝催化剂载体、氢氧化铝前驱体、氧化铝涂层材.

检测项目

铁(Fe)、硅(Si)、钠(Na)、钙(Ca)、镁(Mg)、钾(K)、钛(Ti)、钒(V)、铬(Cr)、锰(Mn)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、镓(Ga)、锗(Ge)、砷(As)、硒(Se)、锶(Sr)、钼(Mo)、银(Ag)、镉(Cd)、锡(Sn)、锑(Sb)、钡(Ba)、钨(W)、铂(Pt)、金(Au)、汞(Hg)、铅(Pb)、铋(Bi)、钍(Th)、铀(U)

检测范围

冶金级氧化铝粉体、高纯氧化铝陶瓷基板、α-氧化铝研磨介质、γ-氧化铝催化剂载体、氢氧化铝前驱体、氧化铝涂层材料、铝电解用预焙阳极、石油裂解催化剂、人工蓝宝石晶体原料、锂电池隔膜涂层粉体、耐火材料骨料、吸附剂载体颗粒、抛光液用纳米氧化铝、热喷涂粉末原料、透明陶瓷烧结体、荧光粉基质材料、分子筛合成原料、绝缘陶瓷管件、耐磨陶瓷片材、高温结构陶瓷坯体、生物医用陶瓷粉体、光学镀膜靶材、半导体封装填料、核工业屏蔽材料、环境监测滤膜标样、地质标样比对物质、化工催化剂再生料、金属基复合材料增强相

检测方法

电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):采用四级杆质量分析器测定10-9级痕量元素,配备动态反应池消除ArCl+等多原子离子干扰。

电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES):通过轴向/径向观测模式测定10-6级元素含量,采用中阶梯光栅分光系统实现多元素同步分析。

微波消解前处理:使用HNO3-HF混合酸体系在密闭容器中梯度升温至210℃,完全溶解氧化铝基体。

内标校正法:添加Sc/Y/In/Lu混合内标溶液补偿基体效应和仪器漂移。

标准加入法:针对复杂基体样品建立多点校正曲线消除基体干扰。

检测标准

ISO2829:2023氧化铝中微量元素含量的电感耦合等离子体测定方法
GB/T6609.30-2023氧化铝化学分析方法第30部分:微量元素含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法
ASTME3061-22采用ICP-MS测定高纯氧化铝中痕量金属的标准试验方法
JISK0125:2020电感耦合等离子体质谱分析方法通则
YS/T630-2022氧化铝化学分析方法杂质元素的测定
ISO14720-2:2021陶瓷原料中杂质元素的测定第2部分:氧化铝材料
GB/T17413.3-2018锂矿石化学分析方法第3部分:氧化铝含量的测定
DIN51083-5:2019陶瓷原料检验第5部分:氧化铝中杂质测定
EN12485:2020工业用化学品氧化铝中重金属测定ICP-OES法
HJ776-2015环境空气颗粒物中金属元素的测定电感耦合等离子体质谱法

检测仪器

ThermoFisheriCAPRQICP-MS:配备三锥接口和碰撞反应池技术,检出限达0.01μg/L。

Agilent7900ICP-MS:采用双曲面四极杆质量分析器,质量范围2-290amu。

PerkinElmerAvio550MaxICP-OES:垂直炬管设计实现轴向观测灵敏度提升10倍。

CEMMARS6微波消解仪:40位高压转子系统支持300℃高温消解程序。

MilestoneUltraWAVE单反应腔微波消解系统:实现100%酸蒸汽接触的独特温控机制。

SartoriusCubisII电子天平:0.01mg分辨率满足微量样品称量需求。

ElementalScientificSC-FAST自动进样系统:集成在线内标添加与稀释功能。

CETACASX-560自动进样器:540位样品盘配置满足高通量检测需求。