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氧化钆准确检测

氧化钆准确检测

检测项目主成分含量、稀土总量、非稀土杂质总量、铁含量、钙含量、钠含量、硅含量、氯离子含量、硫酸根含量、灼烧减量、比表面积、粒径分布、松装密度、振实密度、晶体结构相纯度、热稳定性、吸湿率、灼烧残留物、放射性核素活度、氧钆原子比、碳含量、氮含量、游离氧化钆含量、晶格常数测定、表面羟基含量、zeta电位、透射电镜形貌分析、扫描电镜微观结构、X射线荧光半定量分析、热重分析失重率。检测范围核磁共振造影剂前驱体、中子吸收屏蔽材料基体、荧光粉基质材料、磁致冷合金原料、固体电解质掺杂剂、光学镀膜靶材、激光晶体原料场致发光.

检测项目

主成分含量、稀土总量、非稀土杂质总量、铁含量、钙含量、钠含量、硅含量、氯离子含量、硫酸根含量、灼烧减量、比表面积、粒径分布、松装密度、振实密度、晶体结构相纯度、热稳定性、吸湿率、灼烧残留物、放射性核素活度、氧钆原子比、碳含量、氮含量、游离氧化钆含量、晶格常数测定、表面羟基含量、zeta电位、透射电镜形貌分析、扫描电镜微观结构、X射线荧光半定量分析、热重分析失重率。

检测范围

核磁共振造影剂前驱体、中子吸收屏蔽材料基体、荧光粉基质材料、磁致冷合金原料、固体电解质掺杂剂、光学镀膜靶材、激光晶体原料场致发光材料母体催化剂载体高温超导材料前驱体辐射探测闪烁体核燃料棒涂层材料陶瓷介电材料添加剂工业催化剂稀土抛光粉原料磁性存储介质半导体掺杂剂X射线增感屏材料热障涂层原料固体氧化物燃料电池电解质玻璃着色剂纳米复合材料基体生物医学显影剂工业废水处理吸附剂核废料固化基材电子陶瓷烧结助剂。

检测方法

电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-OES)用于痕量金属杂质测定,检出限可达ppb级;X射线衍射分析法(XRD)通过特征峰位确定晶体结构相纯度;激光粒度分析法(LMS)采用米氏散射原理测定亚微米级颗粒分布;BET氮气吸附法通过多层吸附理论计算比表面积;热重-差示扫描量热联用法(TG-DSC)同步分析热分解特性与相变温度;离子色谱法(IC)精确测定阴离子杂质含量;波长色散X射线荧光光谱法(WD-XRF)实现非破坏性主成分快速分析;场发射扫描电镜(FE-SEM)配合能谱仪进行微观形貌与元素面分布表征;电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)完成超痕量稀土分量的同位素比值测定;库仑滴定法依据法拉第定律精确测定氧钆化学计量比。

检测标准

GB/T12690.3-2020稀土金属及其氧化物化学分析方法第3部分:氧化钆中稀土杂质的测定
ISO11876-2010硬质合金用氧化钆化学分析方法
ASTMC888-2019核级氧化钆技术规范
EJ/T20150-2018核用氧化钆粉末物理性能测试规程
GB/T23513.1-2017纳米氧化钆表征方法第1部分:粒度分布测定
IEC62321-8-2017电子电气产品中氧化钆含量的测定方法
YS/T1075-2015荧光级氧化钆化学分析方法
JISR1616-2021精细陶瓷用氧化钆粉末检验通则
GB/T18115.4-2021稀土氧化物中非稀土杂质化学分析方法第4部分:氧化钆中氯离子的测定
ISO14606-2019表面化学分析-氧化钆薄膜厚度测量指南

检测仪器

全谱直读等离子体光谱仪配备垂直炬管系统实现多元素同步检测;多晶X射线衍射仪采用θ-θ测角器保证高角度分辨率;动态光散射粒度分析仪配置532nm激光源满足纳米颗粒测试需求;比表面及孔隙度分析仪通过静态容量法完成微孔结构表征;同步热分析仪集成高灵敏度天平实现10μg级质量变化监测;场发射透射电镜配备球差校正器达到原子级成像分辨率;波长色散型X荧光光谱仪使用4kW铑靶X光管提升激发效率;同位素稀释质谱仪采用六极杆碰撞池消除多原子离子干扰;激光拉曼光谱仪结合共聚焦显微镜实现微区相结构分析;高温原位X射线衍射炉配备气氛控制系统满足相变过程动态观测。