检测项目
金属镀层厚度、有机涂层厚度、陶瓷涂层厚度、阳极氧化膜厚度、磷化膜厚度、化学转化膜厚度、真空镀膜厚度、粉末涂层厚度、电泳漆膜厚度、热浸镀层厚度、防腐层厚度、光学薄膜厚度、半导体薄膜厚度、纳米涂层厚度、绝缘层厚度、导电层厚度、装饰镀层厚度、耐磨涂层厚度、防滑涂层厚度、阻隔层厚度、粘接层厚度、钝化层厚度、硬化层厚度、润滑层厚度、反射膜厚度、增透膜厚度、防水层厚度、隔热层厚度、电磁屏蔽层厚度、生物相容性涂层厚度检测范围
汽车车身电泳漆层、发动机活塞环镀铬层、航空发动机热障涂层、船舶螺旋桨铜镍镀层、风电叶片环氧涂层、光伏组件减反射膜、手机屏幕ITO导电膜、集成电路铜互连层、医用支架羟基磷灰石涂层、食品罐内壁环氧树脂涂层、输油管道3PE防腐层、桥梁钢结构锌铝涂层、飞机蒙皮底漆体系、锂电池隔膜陶瓷涂层、高铁转向架聚氨酯涂料、核反应堆锆合金氧化膜、眼镜镜片加硬膜层、刀具类金刚石薄膜、太阳能集热板选择性吸收膜、建筑幕墙氟碳喷涂层、PCB板沉金镀层、轴承表面渗氮硬化层、塑料件真空镀铝膜层、光纤预制棒二氧化硅沉积层、石化设备橡胶衬里层、纺织机械电镀硬铬层、海洋平台牺牲阳极包覆层检测方法
1.X射线荧光法（XRF）：利用特征X射线强度与膜厚的定量关系，适用于0.01-50μm金属/合金镀层的非破坏测量2.磁性测厚法：基于磁通量变化原理，专用于钢铁基体上非磁性涂层的快速测量（1-3000μm）3.涡流测厚法：通过交变磁场感应涡流测定非导电基体金属涂层的厚度（5-2000μm）4.金相显微镜法：制备截面样品后显微观测，可精确测量多层复合结构（精度0.5μm）5.椭偏仪法：通过偏振光参数变化分析透明/半透明薄膜的光学常数与厚度（1nm-10μm）6.台阶仪测量法：采用探针扫描薄膜台阶高度差实现纳米级精度测量（0.1nm-100μm）7.超声波测厚法：利用声波在不同介质界面的反射时差进行多层结构分析（10μm-50mm）8.β射线背散射法：同位素源发射β粒子与材料作用产生背散射电子计数反演膜厚（0.1-25μm）9.库仑测厚法：通过阳极溶解特定面积镀层的电量计算金属镀层绝对厚度（0.025-50μm）10.干涉显微镜法：利用光波干涉条纹间距计算透明薄膜的几何厚度（1nm-20μm）检测标准
ISO2178:2016磁性基体非磁性覆盖层厚度测量ISO3497:2000金属覆盖层X射线光谱测厚法ASTMB568-98(2014)用X射线光谱法测定镀层厚度的标准试验方法GB/T4956-2003磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性法JISH8501:2018金属覆盖层的膜厚试验方法DINENISO2360:2017非导电基体金属覆盖层涡流测厚法ASTMD7091-20用破坏性横断面显微镜法测定涂覆层厚度的标准规程ISO1463:2021金属和氧化物覆盖层横断面显微镜测量法GB/T11378-2005金属覆盖层轮廓尺寸测量方法ASMEB46.1-2019表面纹理及表面粗糙度测量规范检测仪器
1.X射线荧光测厚仪：配备多靶位X光管与SDD探测器系统，支持Fe/Ni/Cu/Zn等30种元素分析2.电磁感应式涂层测厚仪：采用双线圈差分探头设计，自动识别铁/非铁基材并切换量程3.激光共聚焦显微镜：配置405nm激光光源与压电陶瓷扫描台，实现三维形貌重构与膜厚分析4.白光干涉台阶仪：垂直扫描分辨率达0.1nm，适用于微电子器件薄膜台阶高度测量5.多波长椭偏仪：配备自动旋转补偿器与CCD阵列探测器，支持宽光谱(190-1700nm)薄膜分析6.β射线背散射测厚仪：使用C-14同位素源与盖革计数器系统进行在线镀层监测7.超声波测厚仪：宽频带(5-30MHz)聚焦探头配合脉冲回波技术实现多层结构解析8.库仑法测厚装置：精密恒流电源与电解池系统组合用于贵金属镀层的绝对量测量9.金相制样系统：包含自动切割机-镶嵌机-研磨抛光机-显微硬度计全流程处理设备10.纳米压痕仪：配备Berkovich金刚石压头与高精度位移传感器进行力学性能关联膜厚测试
