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低电流测试涵盖三大核心项目:静态漏电流测试(10pA-100nA)、动态工作电流测试(100nA-10mA)及待机休眠电流测试(1nA-10μA)。其中静态漏电流需在器件额定电压下测量绝缘介质或PN结反向偏置时的电荷泄漏量;动态工作电流需同步采集瞬态峰值与平均功耗参数;待机电流测试要求连续监测72小时以上的超低功耗状态稳定性。
特殊场景扩展项目包括:温度循环下的电流漂移测试(-40℃~125℃)、电磁干扰环境中的噪声耦合测试(10Hz-1GHz频段)、长期老化试验中的电流衰减率测定(1000小时以上)。所有项目均需符合IEC60749-26、JEDECJESD22-A108等国际标准规定的测试条件。
本技术适用于五类典型对象:半导体器件(MOSFET栅极漏电、二极管反向恢复电流)、医疗电子设备(生物电传感器基线噪声、植入式装置功耗)、新能源系统(光伏组件暗电流、锂电池自放电)、精密仪器(质谱仪离子流、电子显微镜束流)及物联网终端(BLE模块休眠功耗、NB-IoT节点续航评估)。
特殊材料体系需针对性调整方案:宽禁带半导体(SiC/GaN)需配置2000V以上偏置电压;有机薄膜器件应控制环境湿度<5%RH;量子点器件须在电磁屏蔽室进行飞安级测量。工业级检测需满足IP67防护等级与Class1Div2防爆认证要求。
基础测量采用四线制开尔文连接法消除接触电阻影响,配合主动屏蔽技术将系统本底噪声降至0.1fA/√Hz以下。针对nA级以下弱电流推荐积分法测量(电荷累积时间>10s),采用电容式电荷放大器配合24位Σ-ΔADC实现0.01%读数精度。
动态测试需构建多量程自动切换系统(100fA-1A),运用脉冲宽度调制(PWM)同步触发技术捕获μs级瞬态过程。对于高阻抗负载(>1GΩ),须采用保护电极设计并施加反向偏置补偿电压以消除表面漏电流干扰。
先进方法体系包含:锁相放大技术(LIA)用于50Hz工频噪声抑制;相关双采样(CDS)消除1/f噪声;三轴亥姆霍兹线圈构建零磁通环境降低电磁干扰。所有数据采集需符合ALCCC准则(平均最小可测变化水平<0.5%)。
核心设备包含:高精度源表(如KeysightB2900系列)实现0.1fA分辨率与0.015%基础精度;皮安表(Keithley6485)配备10^14Ω输入阻抗适配高阻测量;静电计(Keithley6517B)支持10aC电荷灵敏度与10mV偏置补偿功能。
辅助系统包括:电磁屏蔽箱(衰减值>80dB@1GHz)、恒温恒湿箱(波动0.5℃/2%RH)、多轴振动台(5-2000Hz扫频控制)。智能化平台应集成LabVIEW控制模块实现:自动量程切换、温度漂移补偿算法、基于NIST溯源的标准器校准功能。
计量器具须定期进行量值溯源:直流标准源(Fluke5720A)提供0.5ppm不确定度的基准电流;标准电阻箱(IETLabsSRX系列)覆盖1Ω-1TΩ阻值范围;分流器(TEGAMPRS-4000)满足100A脉冲电流校准需求。
确定测试对象与安排:确认测试对象并进行初步检查,确定样品寄送或上门采样安排;
制定验证实验方案:与委托方确认与协商实验方案,验证实验方案的可行性和有效性;
签署委托书:签署委托书,明确测试详情,确定费用,并按约定支付;
进行实验测试:按实验方案进行试验测试,记录数据,并进行必要的控制和调整;
数据分析与报告:分析试验数据,并进行归纳,撰写并审核测试报告,出具符合要求的测试报告,并及时反馈测试结果给委托方。