导电剂检测

检测项目

导电剂的核心检测项目包含七大类指标：电导率测试评估材料基础导电特性；粒径分布分析确保材料均一性；纯度检测通过元素分析排除杂质干扰；热稳定性测试验证高温环境下的性能保持度；分散性评价反映实际应用中的界面特性；形貌分析采用电子显微镜观测微观结构；化学结构表征通过光谱技术确认官能团组成。

其中电导率作为核心参数需在标准温湿度条件下测量（23±2℃，50±5%RH），采用四探针法消除接触电阻影响。粒径分布测试需区分体积平均径与数量平均径的差异值不超过15%。纯度检测要求金属杂质总量低于50ppm（ICP-MS法），碳基材料灰分含量不超过0.5%（灼烧法）。

检测范围

现行检测体系覆盖五大类导电材料：碳基导电剂（炭黑/石墨烯/碳纳米管）、金属粉末（银粉/铜粉/镍粉）、高分子复合导电剂（PEDOT:PSS/聚苯胺）、纳米线材料（银纳米线/铜纳米线）以及复合型导电剂（金属-碳复合材料）。特殊应用场景扩展至柔性电子用离子液体导电剂、透明导电薄膜用氧化铟锡(ITO)等新型材料。

具体应用场景包括：锂离子电池正极用SP导电炭黑（D50≤40nm）、光伏背板用铝浆（固含量≥75%）、电磁屏蔽用镀银铜粉（银层厚度≥200nm）、触摸屏用纳米银线（直径≤30nm）等。针对不同形态产品建立差异化检测方案：粉末材料侧重振实密度测试（GB/T 5162），浆料产品需测定粘度稳定性（ASTM D2196）。

检测方法

标准化检测方法体系包含：四探针法（GB/T 3048.3）测量块体材料体积电阻率；动态光散射法（ISO 22412）测定纳米级分散液粒径；热重分析法（GB/T 27761）评估热分解特性；扫描电镜（SEM）结合图像分析软件计算长径比；X射线衍射（XRD）解析晶体结构参数；拉曼光谱判定碳材料缺陷密度。

特殊测试方法包括：三电极体系循环伏安法测定赝电容特性；霍尔效应测试仪测量载流子浓度与迁移率；四线制交流阻抗谱分析界面接触电阻；激光闪射法（ASTM E1461）测定热扩散系数；原子力显微镜（AFM）表面电势映射技术。

检测仪器

核心检测设备配置应包含：四探针电导率测试仪（量程10^-6-10⁶ S/m）、激光粒度分析仪（测量范围0.3nm-3000μm）、同步热分析仪（TGA-DSC联用）、场发射扫描电镜（分辨率≤1nm）、X射线光电子能谱仪（能量分辨率≤0.45eV）、BET比表面积分析仪（孔径测量范围0.35-500nm）。

辅助设备包括：高精度微量天平（精度0.01mg）、真空干燥箱（控温精度±1℃）、超声波分散仪（功率可调至1000W）、手套箱系统（氧含量≤0.1ppm）。精密仪器需定期进行计量校准：SEM使用标准栅格板校准放大倍数，四探针系统采用标准电阻片进行线性验证。

检测流程

确定测试对象与安排：确认测试对象并进行初步检查，确定样品寄送或上门采样安排；

制定验证实验方案：与委托方确认与协商实验方案，验证实验方案的可行性和有效性；

签署委托书：签署委托书，明确测试详情，确定费用，并按约定支付；

进行实验测试：按实验方案进行试验测试，记录数据，并进行必要的控制和调整；

数据分析与报告：分析试验数据，并进行归纳，撰写并审核测试报告，出具符合要求的测试报告，并及时反馈测试结果给委托方。