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真空度测量:量化系统内部绝对压力值(Pa),判定是否达到设计真空等级
泄漏率测试:测定单位时间内气体渗透量(Pa·m³/s),评估密封系统完整性
抽气特性分析:记录系统压力随时间变化曲线(P-t曲线),验证真空泵组性能
残余气体分析:通过四极质谱仪识别系统内残留气体成分及分压比
极限真空验证:在最佳工况下测定系统可达到的最低稳定压力值
高真空设备:分子泵机组、低温泵系统、真空镀膜装置等工业设备
密封容器:航天器推进舱、医用灭菌罐体、半导体工艺腔室等特种容器
管路系统:超高真空传输管道、低温流体输送管线等复杂管网
电子器件:X射线管、光电倍增管等真空封装电子元件
科研装置:粒子加速器真空束流管、核聚变实验装置等大型科研设施
静态升压法:
将待测系统抽至基准真空度(通常≤1×10⁻³Pa)后关闭隔离阀
记录24小时内压力变化数据(采样间隔≤5分钟)
按公式Q=V×(ΔP/Δt)计算泄漏率(V为系统容积)
执行标准:ASTM E493-06(2020) Section 7.1氦质谱检漏法:
在待检部位外表面施加氦气示踪剂(喷吹压力0.1-0.2MPa)
通过质谱仪检测系统内氦分压变化(灵敏度可达1×10⁻¹²Pa·m³/s)
采用差分模式消除本底干扰(氦本底浓度应<5×10⁻⁶)
执行标准:ISO 3530:2019 Annex B动态流量法:
在系统入口接入标准漏孔(标定值1×10⁻⁷Pa·m³/s)
调节节流阀使系统压力稳定在测试点(通常1×10⁻²~1×10⁻⁴Pa)
通过流量计测量实际气体通量(误差应<±3%)
执行标准:GB/T 32218-2015 Clause 6.4残余气体分析法:
使用四极质谱仪进行全谱扫描(质量数范围1-200amu)
识别特征峰对应气体成分(H₂O峰m/z=18,N₂峰m/z=28)
计算各组分分压比(相对误差≤±15%)
执行标准:SJ/T 11486-2015 Section 5.3
电容薄膜规: 量程1×10⁻⁴~1000Pa,精度±0.15%读数, 适用于中高真空段压力测量, 温度补偿范围-20℃~50℃
冷阴极电离规: 量程1×10⁻⁸~1×10⁻¹Pa, 线性度优于±20%, 需配合磁屏蔽装置使用
氦质谱检漏仪: 最小可检漏率5×10⁻¹³Pa·m³/s, 响应时间<3秒, 配备自动校准模块
四极质谱分析系统: 质量分辨率0.5amu, 检出限1×10⁻⁷Pa, 配置二次电子倍增器
涡轮分子泵机组: 极限压力≤5×10⁻⁷Pa, 抽速400L/s(N₂), 配备变频驱动控制器
数字微压计: 量程±5000Pa, 分辨率0.01Pa, 具备RS485通讯接口
确定测试对象与安排:确认测试对象并进行初步检查,确定样品寄送或上门采样安排;
制定验证实验方案:与委托方确认与协商实验方案,验证实验方案的可行性和有效性;
签署委托书:签署委托书,明确测试详情,确定费用,并按约定支付;
进行实验测试:按实验方案进行试验测试,记录数据,并进行必要的控制和调整;
数据分析与报告:分析试验数据,并进行归纳,撰写并审核测试报告,出具符合要求的测试报告,并及时反馈测试结果给委托方。