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热阻抗(Thermal Impedance)是表征材料或系统在热传导过程中阻碍热量传递能力的物理参数,广泛应用于电子器件、建筑保温材料、能源设备及汽车工业等领域。随着现代工业对散热性能要求的提升,热阻抗测试成为评估材料热管理能力、优化产品设计及保障设备可靠性的关键技术手段。通过精确测量热阻抗,可有效预测元器件的工作温度分布,避免因过热导致的性能下降或失效,同时为散热结构优化提供数据支撑。
热阻抗测试主要适用于以下场景:
热阻抗测试的核心项目包括以下几类:
材料热阻测试 测量材料单位面积的热阻值(R-value),表征其阻止热量传递的能力。常用于建筑保温材料(如岩棉、聚氨酯泡沫)和电子基板材料(如陶瓷基板、金属复合材料)。
界面热阻测试 评估两个接触面之间的热传导效率,例如芯片与散热器之间的界面热阻。界面热阻过高会导致热量堆积,影响设备寿命。
动态热阻抗分析 模拟实际工作条件下(如周期性温度变化或瞬态热冲击)的热阻抗变化,用于评估材料或器件的热稳定性。
热扩散系数测试 结合热阻抗数据计算材料的热扩散系数(α),反映热量在材料内部的传递速率。
多层结构综合热阻 针对复合结构(如PCB板、多层隔热膜)的整体热阻测试,分析各层材料的协同效应。
热阻抗测试需遵循国内外标准化组织制定的技术规范,主要参考标准包括:
ASTM D5470-22 《Standard Test Method for Thermal Transmission Properties of Thermally Conductive Electrical Insulation Materials》 该标准规定了电绝缘材料热传导性能的测试方法,适用于薄层材料的热阻抗测量。
ISO 22007-2:2022 《Plastics — Determination of thermal conductivity and thermal diffusivity — Part 2: Transient plane heat source (hot disc) method》 适用于塑料等非金属材料的热导率与热扩散系数测试,采用瞬态平面热源法。
JESD51-14:2019 《JEDEC Standard for Thermal Test Chip Guideline (Wire Bond Type)》 针对半导体器件的热测试芯片设计及热阻测试流程规范。
GB/T 10295-2008 《绝热材料稳态热阻及有关特性的测定 热流计法》 中国国家标准,规定使用热流计法测定绝热材料的热阻值。
热阻抗测试方法根据测试对象和条件可分为稳态法与瞬态法两类:
1. 稳态法 通过建立稳定的温度梯度测量热流密度,计算热阻值。
2. 瞬态法 通过分析温度随时间的变化推导热参数,适用于快速测试与动态分析。
3. 红外热成像技术 结合红外热像仪(如FLIR T860)与热激励装置,可视化表面温度分布并反推热阻抗。适用于复杂结构器件的非接触式测试。
以电子器件界面热阻测试为例,典型流程包括:
当前热阻抗测试的难点在于高精度测量微小界面热阻(<0.1 K·cm²/W)及复杂工况模拟。随着微纳尺度散热需求的增长,基于扫描热显微镜(SThM)和3ω法的超局部热阻测试技术逐渐兴起。此外,人工智能技术被引入测试数据分析,通过机器学习算法优化参数拟合效率与准确性。
热阻抗测试作为连接材料科学与工程应用的关键桥梁,其技术进步持续推动着散热设计、能源效率及设备可靠性的提升。未来,多尺度测试方法的融合与智能化分析工具的普及将进一步扩展该技术的应用边界,为工业创新提供更强大的支持。
JEDEC JESD24-12-2004 绝缘双极晶体管的热阻抗测量
SJ 20788-2000 半导体二极管热阻抗测试方法
ASTM C1303-2000 受控实验室条件下用限幅和定标法评定无面刚性闭室塑料泡沫的热阻抗长期变化的标准试验方法
JEDEC JESD24-6-1991 JESD24的补遗-绝缘双极晶体管的热阻抗测量
1.在线或电话咨询,沟通测试项目;
2.寄送样品或上门取样,确认实验方案;
3.签署保密协议,支付测试费用;
4.整理实验数据,出具测试报告;