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元素含量分析:测定样品中特定元素的重量百分比,检测范围从0.01%至100%,使用标准曲线或无标样方法进行定量。
检测限:确定仪器能检测到的最低元素浓度,通常为0.1wt%,基于信噪比和背景扣除计算。
精度:测量结果的重复性,以相对标准偏差表示,如±0.5%,通过多次测量同一样品评估。
能量分辨率:能谱仪的分辨能力,以eV为单位,如130eV,影响元素峰分离和识别准确性。
峰背比:特征峰与背景的比率,影响检测灵敏度,比值越高表示信噪比越好,通常要求大于10:1。
定量分析:使用标准样品进行校准,确保准确性,误差小于1%,涉及矩阵效应校正。
定性分析:识别样品中的元素种类,基于特征X射线能量,能量范围通常从0.1keV到20keV。
mapping分析:元素分布成像,空间分辨率可达1μm,用于可视化元素在样品表面的分布。
线扫描:沿特定路径的元素浓度变化,用于界面分析,步长可调至0.1μm。
厚度测量:用于薄膜样品的厚度分析,基于X射线强度衰减,测量范围1nm至10μm。
元素比率计算:测定样品中不同元素的比例,如氧铁比,用于化学计量分析。
背景扣除:处理能谱中的背景信号,提高峰面积计算准确性,使用数学模型如Shirley或线性扣除。
金属合金:分析合金成分,如不锈钢中的铬、镍含量,用于质量控制和材料认证。
半导体材料:检测硅片中的掺杂元素,如硼、磷,确保电子器件性能。
陶瓷材料:测定氧化物、碳化物等成分,如Al2O3、SiC,用于高温应用评估。
聚合物:分析添加剂或填充物元素,如钛白粉中的钛,改善材料性能。
地质样品:矿物成分分析,如石英中的硅氧,用于地质勘探和研究。
生物样品:如组织中的元素分布,钙、磷等,用于医学和生物学研究。
环境样品:土壤、水中的重金属,如铅、汞,监测环境污染。
电子元件:PCB板上的焊料成分,锡铅合金,确保焊接可靠性。
航空航天材料:复合材料元素分析,如碳纤维增强塑料,用于轻量化设计。
医疗设备:植入物材料成分,如钛合金,保证生物相容性。
化学品:分析试剂纯度,如催化剂中的贵金属含量,用于化工过程。
食品包装材料:检测涂层或添加剂元素,如铝箔中的铝,确保食品安全。
ASTM E1508: JianCe Practice for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy
ISO 22309: Microbeam analysis — Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS)
GB/T 17359: 微束分析 能谱法定量分析
ASTM E1085: JianCe Test Method for Analysis of Low-Alloy Steels by Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry
ISO 15632: Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for the specification of certified reference materials (CRMs)
GB/T 19500: X射线光电子能谱分析方法通则
ASTM E1621: JianCe Practice for Elemental Analysis by Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometry
ISO 17470: Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry
GB/T 20725: 电子探针微量分析标准方法
ASTM E1172: JianCe Practice for Describing and Specifying a Wavelength-Dispersive X-Ray Spectrometer
能量色散X射线能谱仪:用于元素分析,通过检测特征X射线能谱,功能包括定性定量分析和元素 mapping。
波长色散X射线能谱仪:提供更高分辨率,用于元素分析,分辨率可达10eV,适用于复杂样品。
扫描电子显微镜配备能谱仪:结合形貌和成分分析,空间分辨率高,用于微区元素测定。
X射线荧光光谱仪:用于无损元素分析,检测范围从钠到铀,适用于固体和液体样品。
电子探针微分析仪:用于微区元素定量分析,精度高,结合波长和能量色散技术。
能谱校准标准样品:用于仪器校准,确保测量准确性,包含已知元素浓度的参考材料。
样品制备设备:如研磨机和涂层仪,用于制备均匀样品表面,减少分析误差。