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表面电阻率:测量材料表面电阻特性,参数包括测量范围1E3~1E12 Ω。
体积电阻率:评估材料内部电阻性能,参数包括测试精度±5%。
静电衰减时间:记录电荷消散到50%所需时间,参数包括时间范围0.1ms~100s。
电荷半衰期:测定电压衰减至50%的时间,参数包括精度±0.1s。
离子污染浓度:检测表面离子残留水平,参数包括钠当量精度0.01μg/cm²。
摩擦起电电压:通过摩擦测试静电产生能力,参数包括电压范围0~20kV。
表面电位:测量材料表面静电荷分布,参数包括电位范围±10kV。
电阻温度系数:评估电阻随温度变化特性,参数包括温度范围-40°C~150°C。
介电常数:测定材料介电性能,参数包括频率范围10Hz~1MHz。
静电屏蔽效能:评估材料静电屏蔽能力,参数包括衰减值0~60dB。
PVDF胶粒原料:用于注塑或挤出的原始颗粒材料。
抗静电薄膜:PVDF基薄膜应用于电子包装领域。
电子元件封装:半导体器件封装用PVDF复合材料。
医疗器械部件:如导管和手术器械手柄。
航空航天材料:舱内装饰件和结构组件。
工业耗材:防静电容器和周转箱。
汽车零部件:内饰和电子部件材料。
建筑材料:静电消散地板和墙面覆盖层。
服装纺织品:抗静电纤维和织物。
化工设备衬里:防腐蚀静电控制衬垫。
ASTM D257:绝缘材料直流电阻或电导测试标准。
ISO 1853:导电和抗静电橡胶材料电阻率测定。
GB/T 1410-2006:固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法。
ANSI/ESD S11.11:表面电阻测量规范。
GB/T 33345-2016:静电衰减性能测试方法。
IEC 60093:固体绝缘材料电阻率测试标准。
ASTM D4496:直流电阻或电导率测试方法。
ISO 3915:塑料导电性电阻率测定。
GB 12014-2009:防静电服相关测试标准。
MIL-STD-883:微电子器件静电放电测试方法。
表面电阻测试仪:用于测量材料表面电阻,量程1E3~1E12 Ω。
高阻计:支持高精度电阻测量,电流测量范围10fA~20mA。
静电衰减测试系统:记录静电消散过程,时间分辨率0.1ms。
法拉第杯测试套件:用于电荷量测量,符合标准电荷评估要求。
离子色谱仪:检测离子污染浓度,检出限0.1ppb。
阻抗分析仪:测量介电常数和阻抗,频率范围10μHz~20MHz。
摩擦起电机:模拟摩擦产生静电,转速可调0-2000rpm。