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元素分布图:生成样品表面元素的空间分布图像,检测参数包括扫描步长、元素种类和图像分辨率。
元素浓度定量:测量各元素的重量百分比或原子百分比,检测参数包括能谱采集时间、计数率和校准标准。
相分析:识别材料中不同相或化合物的分布,检测参数包括相边界识别精度和元素配比。
缺陷分析:检测杂质或缺陷区域的元素组成,检测参数包括缺陷尺寸阈值和元素浓度偏差。
涂层厚度测量:分析涂层或薄膜的厚度和成分,检测参数包括涂层厚度范围和界面元素扩散。
界面分析:评估界面处的元素扩散和反应层,检测参数包括界面宽度和元素梯度。
颗粒分析:识别和分类颗粒的成分和大小,检测参数包括颗粒尺寸分布和元素组成。
腐蚀产物分析:分析腐蚀区域的元素组成和分布,检测参数包括腐蚀产物类型和元素浓度。
焊接区分析:检查焊接接头的成分均匀性和缺陷,检测参数包括焊接区元素偏析和孔隙率。
生物样品元素映射:用于生物组织的元素分布分析,检测参数包括组织切片厚度和元素灵敏度。
金属材料:包括钢铁、铝合金和铜合金,用于成分分析和微观结构表征。
陶瓷材料:如氧化铝、碳化硅和氮化硅,检查相分布和杂质含量。
电子元件:半导体芯片和电路板,分析元素分布和缺陷。
聚合物复合材料:碳纤维增强塑料和聚合物 blends,检测填料分布和界面结合。
地质样品:矿石和矿物标本,进行矿物成分和分布分析。
生物医学材料:植入物和组织样本,评估元素毒性和生物相容性。
涂层和薄膜:物理气相沉积涂层和化学薄膜,测量厚度和成分均匀性。
考古样品:陶瓷碎片和金属文物,用于年代鉴定和腐蚀分析。
环境样品:大气颗粒物和土壤样本,分析污染源和元素迁移。
能源材料:电池电极和燃料电池组件,检查成分均匀性和 degradation。
ASTM E1508标准实践用于能谱分析中的元素定量。
ISO 22309微束分析-能谱法定量分析方法。
GB/T 17359电子探针和扫描电镜能谱分析通用技术条件。
ASTM E2142用于能谱面扫描的测试方法。
ISO 15472表面化学分析-X射线光电子能谱仪能量标尺校准。
GB/T 20725波谱和能谱分析标准方法。
ASTM E2809能谱分析中的标准参考材料使用。
ISO 17470微束分析-能谱仪性能参数测定。
GB/T 33345电子探针定量分析通则。
ASTM E3061能谱分析数据报告标准。
扫描电子显微镜:提供高分辨率表面形貌图像,用于样品观察和能谱扫描定位。
能谱仪: attached to scanning electron microscope, 用于元素分析和面扫描数据采集。
X射线荧光光谱仪:进行元素成分分析,支持面扫描模式用于元素分布。
电子探针微分析仪:高精度元素定量分析,适用于微小区域的面扫描。
聚焦离子束系统:用于样品制备和局部面扫描分析,结合能谱进行三维成分映射。