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表面电阻率:评估材料表面导电性能。测量范围1E3 to 1E12 Ω/sq,精度±5%。
体积电阻率:测定材料内部电阻特性。测试范围1E4 to 1E15 Ω·cm,误差±3%。
静电衰减时间:记录电荷消散至50%所需时间。时间范围0.1ms to 100s,分辨率0.01ms。
电荷半衰期:测量初始电压衰减至一半的时间。范围0.5s to 3600s,精度±2%。
离子污染浓度:检测表面离子残留量。钠当量测量精度0.01μg/cm²,范围0.1 to 100μg/cm²。
表面电位:评估静电荷积累水平。量程-20kV to +20kV,分辨率1V。
摩擦起电电压:测定材料摩擦后产生的电压。范围-15kV to +15kV,可调转速0-2000rpm。
电导率:测量材料导电能力。范围1E-12 to 1E2 S/m,温度补偿20-25°C。
介电常数:评估材料绝缘性能。频率范围10Hz to 10MHz,精度±0.5%。
静电屏蔽效能:测试材料屏蔽静电场能力。衰减值0 to 60dB,频率50Hz to 1GHz。
半导体封装材料:环氧模塑料、陶瓷基板等绝缘与导电组件。
高分子聚合物:PC/ABS合金、抗静电PE薄膜等塑料材料。
医疗器械组件:导管管路、手术器械手柄等防静电部件。
电子工业耗材:防静电周转箱、SMT托盘等生产辅助材料。
航空航天材料:碳纤维复合材料、舱内装饰件等轻质高强部件。
纺织制品:防静电服装、地毯等纤维类产品。
涂料与涂层:导电涂料、抗静电涂层等表面处理材料。
橡胶制品:硅橡胶、丁腈橡胶等弹性材料。
粉末材料:金属粉末、聚合物粉末等颗粒状物质。
液晶显示组件:ITO玻璃、偏光片等光学材料。
ASTM D257-2014标准用于体积电阻率测量。
ISO 1853:2018规范导电橡胶电阻率测试。
GB/T 1410-2006进行固体绝缘材料体积电阻试验。
ASTM D4496-2013测定表面电阻率。
GB/T 33345-2016电子组件离子残留检测方法。
ISO 10934-2019静电衰减测试标准。
GB 12014-2019防静电服技术要求。
ASTM E595-2015出气性能测试。
IEC 61340-5-1静电防护标准。
GB/T 17626.2-2018静电放电抗扰度试验。
表面电阻测试仪:量程1E3 to 1E12 Ω,用于表面电阻率测量。
高阻计:电流测量范围10fA to 20mA,支持体积电阻率测试。
静电衰减测试系统:时间分辨率0.1ms,记录电荷消散过程。
离子色谱仪:检出限0.1ppb,用于离子污染浓度分析。
法拉第杯测试套件:符合MIL-STD-883,测量粉末材料电荷。