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硅含量测定:定量分析硅元素浓度,检测限0.1%,精度2%
铝含量测定:测量铝杂质水平,检测范围1-1000ppm,相对标准偏差<5%
铁含量测定:评估铁元素含量,检测下限0.5ppm,线性范围0.5-500ppm
钙含量测定:分析钙杂质浓度,检测限1ppm,精度3%
钠含量测定:监测钠元素含量,检测灵敏度0.2ppm,适用浓度0.2-200ppm
钾含量测定:量化钾元素浓度,检测限0.3ppm,重复性4%
镁含量测定:测定镁杂质水平,检测范围0.4-400ppm,精度6%
钛含量测定:分析钛元素含量,检测下限0.6ppm,动态范围0.6-600ppm
锌含量测定:测量锌杂质浓度,检测限0.7ppm,线性误差<5%
铜含量测定:定量铜元素水平,检测下限0.8ppm,相对偏差3%
工业级硅溶胶:用于催化剂载体元素组成分析
电子级硅溶胶:超高纯度材料杂质控制
医药载体硅溶胶:生物制剂元素安全检测
纳米硅溶胶:小粒径材料成分表征
涂层材料硅溶胶:表面处理产品元素筛查
陶瓷前驱体硅溶胶:烧结材料组分测定
环境监测样品:空气或水污染物元素分析
食品添加剂硅溶胶:安全合规元素检测
化妆品成分硅溶胶:皮肤接触材料杂质控制
研究用硅溶胶:实验室样品元素特性评估
ASTME1621-13X射线荧光光谱元素分析标准
ISO29581-1:2009通用元素定量分析方法
GB/T223.5-2008化学分析X射线荧光光谱法
GB/T4234-2008不锈钢元素测定XRF方法
ISO14703:2018硅基材料微量元素分析规范
GB/T176-2017水泥化学分析X射线荧光法
能量色散X射线荧光光谱仪:快速多元素同时分析,实现硅溶胶样品中微量元素定量检测
波长色散X射线荧光光谱仪:高分辨率元素定量分析,提供精确浓度数据和谱峰识别
台式X射线荧光分析仪:实验室常规元素筛查设备,完成样品批量检测和数据处理
便携式X射线荧光分析仪:原位快速元素分析工具,支持现场样品即时测量
X射线管激发源:产生高强度X射线束,用于元素激发和荧光信号采集