半导体醇类清洗剂测试

<强>电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）: 用于测定含量较高的金属杂质，分析速度快，线性范围宽。

<强>离子色谱法（IC）: 专门用于分离和检测阴离子杂质（如Cl-， SO42-）及部分有机酸。

<强>卡尔·费休滴定法（KF Titration）: 测定水分含量的经典和标准方法，精度高。

<强>激光颗粒计数器法: 利用光散射原理在线或离线测量液体中颗粒的数量与粒径分布。

<强>非挥发性残留物重量法（NVR）: 通过蒸发溶剂并称量残留固体质量的直接测量方法。

<强>原子吸收光谱法（AAS）: 用于测定特定金属元素的传统方法，适用于已知元素的定量分析。

<强>紫外-可见分光光度法（UV-Vis）: 用于测量TOC（间接法）和特定波长下的吸光度。

<强>阿贝折射仪法: 通过测量折射率来快速鉴定物质纯度与浓度的物理方法。

检测仪器设备

<强>气相色谱仪（GC）: 配备热导检测器（TCD）或火焰离子化检测器（FID），用于挥发性组分分析。

<强>电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）: 进行超痕量元素分析的核心设备，具备极低的检出限。

<强>电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）: 用于多元素同时或顺序分析的原子发射光谱仪器。

<强>离子色谱仪（IC）: 配备电导检测器，用于阴离子和阳离子的高灵敏度分离检测。

<强>卡尔·费休水分滴定仪: 库仑法（用于微量水）和容量法（用于常量水）两种类型的水分测定专用设备。

<强>液体颗粒计数器: 采用激光光源和传感器，可实时监测和统计不同粒径通道的颗粒数量。

<强>精密电子天平: 用于NVR测试中残留物的精确称量，要求具有极高的灵敏度与稳定性。

<强>原子吸收光谱仪（AAS）: 包括火焰法和石墨炉法，用于特定金属元素的定量分析。

<强>紫外可见分光光度计（UV-Vis）: 用于测量溶液在紫外及可见光区的吸光度，评估特定杂质或TOC。

<强>阿贝折射仪/数字折射仪: 测量液体折射率的标准仪器，操作简便，结果快速。