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元素含量测定、晶体结构分析、粒径分布测试、比表面积测定、振实密度测量、孔隙率分析、形貌特征观测、相变温度检测、热稳定性评估、氧化还原电位测定、电导率测试、离子扩散系数计算、磁性参数测量、表面官能团鉴定、杂质元素筛查、氯离子残留量测定、硫酸根含量分析、游离金属检测、碳含量测定、氧含量分析、水分含量测试、pH值测定、zeta电位测量、粒度分布曲线绘制、晶格常数计算、结晶度评价、元素价态分析、包覆层厚度测量、团聚指数评估、循环伏安特性测试
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X射线衍射法(XRD):通过布拉格方程解析晶体结构参数与物相组成。
电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES):实现多元素同步定量分析。
扫描电子显微镜(SEM):观测颗粒形貌及表面微观结构特征。
激光粒度分析法:基于米氏散射理论测定颗粒尺寸分布。
比表面及孔隙度分析仪(BET):采用氮气吸附法计算比表面积与孔径分布。
热重-差示扫描量热联用法(TG-DSC):同步监测材料热分解过程与能量变化。
振动样品磁强计(VSM):精确测量材料的磁滞回线特性。
X射线光电子能谱(XPS):解析表面元素化学态及配位环境。
原子吸收光谱法(AAS):针对特定金属元素的痕量分析。
离子色谱法(IC):准确测定阴离子杂质含量。
GB/T24533-2019锂离子电池石墨类负极材料
YS/T582-2013电池级四氧化三钴
GB/T20252-2014钴酸锂
ISO19277:2017金属粉末流动性测定标准漏斗法
ASTMB822-20金属粉末粒度分布的激光衍射测定
JISK1467-2014镍钴锰复合氢氧化物分析方法
GB/T19077-2016粒度分布激光衍射法
ISO4497:2020金属粉末粒度分布的沉降法测定
ASTME3061-17热重分析仪温度校准标准
GB/T19587-2017气体吸附BET法测定固态物质比表面积
场发射扫描电镜(FE-SEM):配备能谱仪(EDS)实现微区成分分析。
高分辨透射电镜(HR-TEM):观测原子级晶格排列与缺陷结构。
全谱直读ICP光谱仪:具备ppb级检出限的多元素快速分析能力。
同步热分析仪:集成TG-DSC模块实现同步质量与热量变化监测。
物理吸附分析仪:采用静态容量法进行比表面及孔径分布测试。
激光粒度分析仪:配备超声分散模块的干湿两用测试系统。
四探针电阻率测试仪:符合范德堡法的薄膜材料导电性能测试装置。
振动样品磁强计:配置超导磁体的宽温区磁学特性测试平台。
X射线衍射仪:配备高温附件的高通量多晶衍射系统。
微波消解仪:高压密闭消解系统用于前处理重金属样品。