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半导体分立器件检测,半导体分立器件测试

发布时间:2020-12-29 09:42:56 - 关键词:半导体分立器件检测,半导体分立器件测试 - 点击数: - 栏目:性能测试

检测概述

半导体分立器件检测,半导体分立器件测试

半导体分立器件检测需要到什么单位做?检测标准有哪些?中化所检测中心是拥有CMA资质的第三方检测机构,为集体所有制的研究所。可以较好的满足客户的不同检测需求。

检测内容

中化所检测中心积累有多年检测技术经验,整合了大量的检测行业资源,可以为您提供分析、检测、测试等服务。由中化所提供的检测报告可以提高消费者对您产品的信赖。

中化所检测中心可以为客户提供以下相关检测服务:

检测产品范围:

大功率二极管、IGBT模块、大功率IGBT、大功率双极型晶体管、功率二极管、功率三极管、晶闸管、MOSFET、IGBT等半导体功率器件等

检测项目:

集电极-发射极漏电流

正向栅极漏电流

反向栅极漏电流

集电极-发射极击穿电压

栅极-发射极阈值电压

集电极-发射极饱和电压

通态电极电流

通态栅极电压

二极管正向导通压降

静态测试、动态测试、环境老化测试、热特性测试等

检测标准

GB/T 37312.1-2019 航空电子过程管理 航空航天、国防及其他高性能应用领域(ADHP)电子元器件 第1部分:高可靠集成电路与分立半导体器件通用要求

GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器

GB/T 249-2017 半导体分立器件型号命名方法

GB/T 29332-2012 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)

GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件

GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范

GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

GB/T 13150-2005 半导体器件 分立器件 电流大于 100A、环境和管壳额定的双向三极晶闸管空白详细规范

GB/T 13151-2005 半导体器件 分立器件 第6部分;晶闸管 第三篇 电流大于100A、环境和管壳额定的反向阻断三极晶闸管空白详细规范

GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分;光电子器件基本额定值和特性

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其他介绍

半导体分立器件是电力电子产品的基础之一,也是构成电力电子变化装置的核心器件之一,主要用于电力电子设备的整流、稳压、开关、混频等,具有应用范围广、用量大等特点,在消费电子、汽车电子、电子仪器仪表、工业及自动控制、计算机及周边设备、网络通讯等众多国民经济领域均有广泛的应用。


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半导体分立器件检测,半导体分立器件测试其它介绍:

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